保护导体电流测试仪

SPM300系列半导体参数测试仪设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪，具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析，空间分辨率＜ 800nm （典型值），也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。设备具有智能化的软件，可对数据进行拟合计算，直接将载流子浓度、晶化率、应力大小或者分布等结果直观的展现给用户。系统稳定，重复性好，可用于实验室检验或者产线监测。① 光路接口盒：内置常用激光器及激光片组，拓展激光器包含自由光及单模光纤输入；② 光路转向控制：光路转向控制可向下或向左，与原子力、低温、探针台等设备连用，可升级振镜选项③ 明视场相机：明视场相机代替目镜④ 显微镜：正置科研级金相显微镜，标配落射式明暗场照明，其它照明方式可升级⑤ 电动位移台：75mm*50mm 行程高精度电动载物台，1μm 定位精度⑥ 光纤共聚焦耦合：光纤共聚焦耦合为可选项，提高空间分辨率⑦ CCD- 狭缝共聚焦耦合：标配CCD- 狭缝耦合方式，可使用光谱仪成像模式，高光通量⑧ 光谱CCD：背照式深耗尽型光谱CCD相机， 200-1100nm 工作波段，峰值QE ＞ 90%⑨ 320mm 光谱仪：F/4.2高光通量影像校正光谱仪， 1*10-5 杂散光抑制比SPM300系列半导体参数测试仪主要应用SPM300系列半导体参数测试仪选型表型号描述SPM300-mini基础款半导体参数分析仪，只含一路532nm 激光器，常规正置显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台SPM300-SMS532多功能型半导体参数分析仪，含532nm 激光器，常规正置显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台，可升级耦合最多4 路激光器SPM300-OM532开放式半导体参数测试仪，含532nm 激光器，定制开放式显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台，可升级耦合最多4 路激光器系统参数项目详细技术规格光源标配532nm，100mW 激光器，其他激光可选，最多耦合4 路激光，可电动切换，功率可调节光谱仪320mm 焦距影像校正光谱仪，光谱范围90-9000cm-1,光谱分辨率2cm-1空间分辨率1μm样品扫描范围标配75mm*50mm，最大300mm*300mm显微镜正置显微镜，明场或者暗场观察，带10X,50X,100X 三颗物镜；开放式显微镜可选载流子浓度分析测试范围测试范围1017 ~ 1020 cm-3，重复性误差5%应力测试可直观给出应力属性（拉力/ 张力），针对特种样品，可直接计算应力大小，应力均匀性分析（需额外配置电动位移台）, 应力解析精度0.002cm-1晶化率测试可自动分峰，自动拟合，自动计算出晶化率，并且自动计算晶粒大小和应力大小测试案例举例

德国EA（HCK）FIP 保护接地和绝缘性能两用测试仪 德国EA(HCK)FIP保护接地和绝缘性能两用测试仪，可测量有效导体横截面或导体阻值，符合EN60204方法。该设备可满足不同的试验需求。 产品特点：■ 行业推荐产品：德国联邦铁路局保护导体检测指定产品；可对电车、地铁车厢及铁轨进行测试。■ 符合标准：EN60204、EN50153。■ 技术指标高：四电极测试；精度高±1%；具有RS232、RS485两种传输模式，可外接设备；四种测试模式。■ 测试参数可调：测试电流17A - 100A可选；多种电阻测试参数可调；导体横截面积和电阻测试参数可选。 性能特点：■ 测试结果满足设定值，输出光信号。■ 测试结果超出设定值，伴有声光报警。■ 检查测试仪器的接地保护和绝缘性能。■ 绝缘测试工作电压直流500V，具有电压异常保护功能。■ 四电极测试，符合标准EN 60204。■ 可连接其他设备实现远程信号输出。所有设备件都通过DKD校准测量装置调试。技术参数：技术参数电源 230 V ±10%频率45 - 65 Hz保护导体检测开路电压3.5 V（AC）0.2 Ω时回路电流10 A短路电流17 A AC参数设置0.1 / 0.2 / 0.3 / 0.5 Ω精度 ±2.5%绝缘检测开路电压500V（DC）短路电流 8.5 MA参数设置1 / 2 / 4 / 7 MΩ精度±2.5%程序检测可调测试时间2 秒 或 10秒数据尺寸306 x 110 x 310mm重量4.7 kg

产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件ST-DP_S（2500A） 半导体器件IGBT 短路电流测试仪IGBTs,MOSFETs, Diode短路电流测试仪，短路电流2500A短路电流 Isc 1A~500A（VDS 电压＞600V 条件下）短路耐量 Esc 1uJ~5000mJ（VDS 电压＞600V 条件下）短路时间 Tsc 1us~150us（VDS 电压＞600V 条件下）?产品简述 ST-DPX 系列产品是主要针对 半导体功率器件的动态参数测试 而开发设计。通过DUT适配器的转换，可测试各类封装外观的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs等功率器件，包括器件、模块、DBC衬板以及晶圆。产品功能模块化设计，根据用户需求匹配功能单元。测试功能单元有DPT（双脉冲测试 Double Pulse Testing，以下简称DPT。包含开通特性、关断特性、反向恢复特性）栅电荷、短路、雪崩、结电容、栅电阻、反偏安全工作区等。测试方案完全符合IEC60747-9国际标准。 产品功能及输出功率进行了模块化设计，满足用户潜在的后期需求，*高测试电压电流可扩展至10KV/10KA，变温测试支持常温到200℃，支持生产线批量化全自动测试。?产品特点? 测试系统电压以1500V为一个模块，电流以2000A为一个模块，可扩展至10KA/10KV? 内置7颗标准电感负载可选用, 另有外接负载接口,可实现不同电感和电阻负载测试需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)? 另有程控式电感箱可供选择? 针对不同结构的封装外观，通过更换 DUT适配器即可? 可进行室温到200℃的变温测试,也可实现子单元测试功能? 测试软件具有实验模式和生产模式，测试数据可存储为Excel文件? 门极电阻可任意调整, 系统内部寄生电感为*小至50nH? 系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用（24hr 工作）? 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）? 系统具有安全工作保护功能，以防止模块高压大电流损坏时对使用者造成伤害，设计符合CE认证? 支持半自动和全自动测试? 采用品牌工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点? 自动化：单机测试时只需手动放置DUT，也可连接机械选件实现自动化测试线? 智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网? 安全性，防爆，防触电，防烫伤，短路保护等多重保护措施，确保操作人员、设备、数据及样品安全。?参数指标

一、产品概述：半导体参数测试仪是一种专门用于测量和分析半导体器件电气特性的测试设备。该仪器能够评估器件的电流-电压（I-V）特性、容量、泄漏电流和其他关键参数，广泛应用于半导体制造和研发领域。二、设备用途/原理：设备用途半导体参数测试仪主要用于测试各种半导体器件，如二极管、晶体管和集成电路。工程师可以利用该仪器进行器件特性分析、故障排查和性能评估，以确保半导体产品的质量和可靠性。工作原理半导体参数测试仪通过施加已知的电压并测量相应的电流来工作。仪器内部使用高精度的模数转换器（ADC）和数字信号处理技术，实时记录和分析I-V曲线。用户可以设置不同的测试条件，如扫频、阶梯测试等，生成详细的测试报告，帮助用户深入了解器件的电气特性和性能表现。三、主要技术指标：1. 配备集成电脑及显示屏一体机箱，包含高精度电流测量模块、电容测量模块、超快脉冲模块，配合用数据测量分析软件，无需外接其他仪表即可实现I-V曲线，I-t曲线，C-V曲线及C-f曲线的测量并能在屏幕实时显示测量结果2. 电流测量精度≤0.1 fA，小可测量电流≤20 fA3. 大电流测量量程≥0.1 A，大输出功率≥2 W4. 电流测量精度10 fA时，电流表的短采样时间间隔100 μs5. I-V特性测试及C-V特性测试切换时，无须更改电路6. 实现不同频率交流阻抗测量（C-V、C-f、C-t） 的测量，频率范围1 kHz-5 MHz，小频率步进≤1 mHz7. 电容测量精度≤5 fF (1 MHz)、≤10 fF（5 MHz）8. 电容测量范围5 fF-1 nF，电压0至±25V，步进≤1 mV9. 具有脉冲输出及采集模块，脉冲输出电压峰值10 V10. 脉冲采样大采样率≥200 MSa/s，小采样时间5 ns11. 具有瞬态波形捕获模式12. 具有任意波形发生器，支持多电平脉冲波形，可编程分辨率10 ns

使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪半导体热特性热阻抗测试仪系统_陕西天士立科技研发生产_平替T3Ster_Phase11热特性测试仪。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准，用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组瞬态热阻抗、热结构分析、结构函数输出ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的产品特点超高精度：温度(T )分辨率0.01℃℃，1MHz变频采样:技术领先：第三代瞬态热测试技术，可输出结构函数进行热结构分析行业领先：具备4路高速高精度采集模块，采样速度，精度均达到行业顶尖水平架构领先：采用B/S架构控制系统、可远程对设备进行状态监控和控制，实现智能化 瞬态监测：连续采集加热和冷却区的结温变化，同步采集温度监控点数据 NPS技术：同步采集温度监控点(NTC/PTC)和结温数据，形成数据关系矩阵。ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的应用场景器件结壳热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 Die-Attach热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 DBC/AMB基本热特性测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 界面热阻测量与分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 PCB板级散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 散热器性能测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 TIM材料热导率测试ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 热缺陷检测ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统 ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“功能指标”产品品牌天士立产品型号ST-HeatX产品名称半导体热特性测试系统主要功能适用于多种类型功率器件及其模组的瞬态热阻抗、热结构分析、结构函数输出试验对象DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC试验标准符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相关标准要求试验模式DIODE模式SAT模式IGBT模式RDSON模式HEMT模式门控电源数量 4 输出方式 隔离输出 输出范围 -10V ~ 20V 输出误差 ≤0.1V + 0.5%set 分辨率 0.01VNTC/PTC数据同步采集NTC测量范围 250kΩ 〜 100Ω PTC测量范围 100Ω 〜 250kΩ 最高采样频率 1MHZ 同步时间误差 ≤1μs栅极漏电测量量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA加热电源量程 30A / 10V 电流输出误差 ≤0.05A + 0.1%set 电流设定分辨率 0.01A 开关速度1μs测温电流源（主）量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V 分辨率 1mA 误差 ≤2mA + 0.5%set测温电流源（辅）量程 0 ~ 100mA / 10V 分辨率 0.01mA 误差 0~10mA ≤50μA + 0.5%set 误差 10 ~ 100mA ≤0.5mA + 0.5%set测量通道数量 4 动态电压测量范围 ±5V(差分模式) 动态电压测量误差 ≤1mV + 0.5%set 动态电压量程 100mV、200mV、400mV、800mV 动态电压分辨率 1.6μV 采样频率 最高1MHz 采样模式 连续变频采样

FSP系列保护接地保护测试仪采用低压高电流对设备进行测试，可对电力机车（如有轨电车、火车、地铁等）车厢进行测试，也可对铁轨进行测试。 电流最大100A，符合欧洲标准EN60204（电器系列安全需求）、EN50153（铁道设备、机车车辆、电气设备事故的防护措施）。 根据测试电流的不同设备可分为：FSP-10 保护导体测试仪（测试电流17A）FSP-25 保护导体测试仪（测试电流25A）FSP-50 保护导体测试仪（测试电流50A）FSP-75 保护导体测试仪（测试电流75A）FSP-100 保护导体测试仪（测试电流100A） 最大电流从 17A-100A 可供选择：检测接地保护导体的电阻，测试符合EN60204、EN50153标准；四电极测试，可以消除由测试连接线产生的影响，测量结果准确；可选导体横截面积或电阻值进行测试；四种测试模式可供选择，自动、手动、电流和时间模式。 FSP-10 技术参数电流 230Vac +6 / -10%最大消耗电流 0.5A频率 45 - 65Hz 保护导体检测开路电压 3.5Vac短路电流 17Aac参数设置 0.1/0.2/2.5/4.0 6mm2精度 ±2.5%符合EN标准测试程序 10秒测试程序 2秒 规格尺寸尺寸 306*110*260mm重量 4kg

ST-SP 2002_5半导体管测试仪可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）主极输出 2000V / 50~1250A，分辨率高至1mV / 10pA支持曲线扫描图示功能 ? 产品应用应用领域军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……主要用途? 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）? 失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）? 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）? 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）? 产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试） ? 产品简述 产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 曲线追踪仪（晶体管图示仪）功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线，可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数，典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲线数据。此外， 针对多条曲线，设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快，更简洁的创建曲线（单击，双击，选择输入菜单，单击）。就是这么简单。 设备支持在单个 DUT 上运行高达 10 条不同曲线的能力，在运行过程中，每个图表都是可视的，每个数据集都被加载到一个被命名的 Excel 工作表中。系统运行速度快，可进行数据记录，提供更高级的数据工具箱，能够运行多条曲线并自动排序，自动将数据存入 Excel 表格，具有缩放功能，光标重新运行功能以及其他许多优点。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。? 产品特点?测试范围广（19大类，27分类）?升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A?采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300us?被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏?真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）?系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障?二极管极性自动判别功能，无需人工操作?IV 曲线显示 / 局部放大?程序保护电流/电压,以防损坏 ?品种繁多的曲线?可编程的数据点对应 ? 增加线性或对数?可编程延迟时间可减少器件发热 ?保存和重新导入入口程序?保存和导入之前捕获图象 ?曲线数据直接导入到 EXCEL?曲线程序和数据自动存入 EXCEL ? 测试能力序号测试器件测试参数01IGBTICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS02MOSFET / MOS场效应管 IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS03J-FET / J型场效应管IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF04晶体管（NPN/PNP）ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF05DIODE / 二极管IR；BVR ；VF06ZENER / 稳压、齐纳二极管IR；BVZ；VF；ZZ07DIAC / 双向触发二极管VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,08OPTO-COUPLER / 光电耦合ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)09RELAY / 继电器RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME10TRIAC / 双向可控硅VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-11SCR / 可控硅IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH12STS / 硅触发可控硅IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-13DARLINTON / 达林顿阵列ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON14REGULATOR / 三端稳压器Vout；Iin；15OPTO-SWITCH / 光电开关ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF16OPTO-LOGIC / 光电逻辑IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF17MOV / 金属氧化物压变电阻ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；18SSOVP / 固态过压保护器ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- 19VARISTOR / 压变电阻ID+； ID-；VC+ ；VC-

一、产品介绍：剩余电流保护器测试仪检定装置（RCD检测仪校准装置）是为漏电开关测试仪提供，方位校准的装置。利用该标准装置可对漏电开关测试仪的主要测量功能进行校准；按《JF1283-2011剩余电流动保护器动作特性检测仪校准规范》的计量要求，具有宽电压特性，在220V±10%下可以正常工作；具有直观的显示界面和操作面板，接线端子标注清晰。二、技术指标要求1、漏电流测试范围0~3000mA，精度优于0.5%；2、分断时间20ms~5000ms，精度优于0.2ms。30mA档：(0～30)mA300mA档：(30～300)mA3000mA档：(300～3000)mA允许误差：±（0.2%读数+0.2%量程）±0.01mA分断时间校准范围：分断时间范围：(10～5000)ms允许误差：±0.1ms剩余电流保护器测试仪检定装置（RCD检测仪校准装置）漏电开关测试仪又称为RCD测试仪、漏电开关检测仪、漏电保护器测试仪、剩余电流动作保护器检测仪、剩余电流动作保护器测试仪。漏电保护器测试仪主要用于测试漏电保护器的漏电动作电流、漏电不动作电流以及漏电动作时间。国内外多年的运行经验表明，漏电开关测试仪的测试性能直接关系到用户对漏电开关的选择，关系到用户的用电安全。因此对漏电开关测试仪的校准至关重要。

半导体电阻率测试仪一、概述 BD-86A型半导体电阻率测试仪是根据四探针测试原理研制成功的新型半导体电阻率测试器，适合半导体器件厂、材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率、方块电阻（薄层电阻），也可以用作测量金属薄层电阻、导电薄层电阻，具有测量精度高、范围广、稳定性好、结构紧凑、使用方便、价格低廉等特点。 仪器分为电气箱和测试架两大部分，电气箱由高灵敏度直流数字电压表，高稳定、高精度的恒流源和高性能的电源变换装置组成，测量结果由LED数字显示，零位稳定，输入阻抗极高。在片状材料测试时，具有系数修正功能，使用方便。测试架分为固定式和手持式两种，探头的探针具有宝石导向，测量精度高、游移率小、耐磨和使用寿命长等特点，而且探针压力可调，特别适合薄片材料的测量。二、主要技术指标1.测量范围：电阻率：10-3--103Ω㎝（可扩展到105Ω㎝），分别率10-4Ω㎝。方块电阻：10-2--104Ω/□（可扩展到106Ω/□），分辨率10-3Ω/□。薄层金属电阻：10-4--105Ω，分辨率10-4Ω。2.数字电压表：电压表量程为3档，分别是20mV档（分辨率10μV)；200mV档(分辨率100μV)；2V档（分辨率1mV)。电压表测量误差±0.3%读数±1字，输入阻抗大于109Ω。3.恒流源：恒流源由交流供电，输出直流电流0---100mA连续可调。恒流源量程为5档，分别是10μA、100μA、1mA、10mA、100mA；分辨率对应是10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA。电流误差±0.3%读数±2字。4.测试架：（可选件）测试架分为固定和手持两种，可测半导体材料尺寸为直径Φ15--Φ600㎜。测试探头探针间距S=1㎜，探针机械游移率±0.3%，探针压力可调。5.显示：3?位LED数字显示0-1999，能自动显示单位、小数点、极性、过载。6.电性能：电性能模拟考核误差﹤±0.3%，符合ASTM规定指标。7.电源：220V±10%，50Hz或60Hz,功耗﹤30W。8.电气箱外形尺寸：440×320×120㎜。 三、工作原理直流四探针法测试原理简介如下：（1）体电阻率测量： 如图：当1、2、3、4根金属探针排成一直线时，并以一定压力压在半导体试样上，在1、4两处探针间通过电流I，则2、3探针间产生电压差V。材料的电阻率ρ=（V/I）×C （Ω㎝） .......3-1式3-1中：C为探针系数，由探针几何位置决定，当试样电阻率分布均匀，试样尺寸满足半无限大条件时，C=2π÷{1/S1+1/S3-1/(S1+S2)-1/(S2+S3）}=2πFSP......3-2式3-2中：S1、S2、S3分别为探针1与2、2与3、3与4之间的距离。当S1=S2=S3=1mm时，则FSP=1，C=2π。若电流取I=C时，电阻率ρ=V,可由数字电压表直接读出。①、块状和棒状晶体电阻率测量：由于块状和棒状样品外形尺寸与探针间距比较，合乎半无限大的边界条件，电阻率值可以直接由公式3-1、3-2式求出。②、薄片电阻率测量：由于薄片样品厚度和探针的间距相比，不能忽略。测量时要提供样品的厚度、形状和测量位置的修正系数。电阻率值可由下面公式得出：ρ=V/I×2πS×FSP×G(W/S)×D(d/s)= ρ0×G(W/S)×D(d/s)...3-3式中：ρ0 为块形体电阻率，W为试片厚度，S为探针间距，G（W/S）为样品厚度修正函数，D(d/s)为样品形状和测量位置修正函数。③、方块电阻、薄层电阻测量：当半导体薄层尺寸满足半无限大平面条件时：R□=π/ln2×(V/I)=4.532(V/I) ........3-4若取I1=4.532I,则R□值可由电压表直接读出。注意：以上的测量都在标准温度(230 C)下进行，若在其他温度环境中测量，应乘以该材料的温度修正系数FT。FT=1-CT（T230） ..........3-5式中：CT为材料的温度系数。（请根据不同材料自行查找）（2）金属电阻测试：本仪器也可用作金属电阻的测量，采用四端子电流-电压降法，能方便的测量金属电阻R,测量范围从100μΩ---200K 四、仪器结构 本仪器为台式结构，分为电气箱和测试架两大部分。【1】电气箱为仪器主要电器部分，电气箱前面板如图4-1所示： 图中：1-电源开关 2-显示屏 3-电流量程开 4-电压量程开关 5-工作方式开关 6-测量选择开关 7-信号输入端口 8-调零电位器 9-电流调节电位器 10-电流开关 11-极性转换开关电气箱后面板如图4-2所示： 前面板功能说明：1-(POWER)-电源220V控制开关。2-LED显示屏：3 ?位LED数字显示（0-1999），自动显示小数点、单位和过载，测试方块电阻时，单位mΩcm当作mΩ/□，测量金属电阻时，单位mΩ㎝当作mΩ。3-(I RANGE)-电流量程开关5档（10μA/100μA/1mA/10mA/100mA)；4-(V RANGE)-电压量程开关3档（20mV/200mA/2V)；5-(FUNCTION)-工作方式开关5档，从左到右分别是“4.53”档为输入电压值×4.532，测量方块电阻用；“6.28”档为输入电压值×0.628，测量电阻率用；“I”档为输入电压×1，测量金属电阻用；“I ADJ”电流调节档，和电流调节电位器配合使用，用于调节输出电流；“CAL”自校档，自校值“199X”。6-(MEAS.SEL)-测量选择开关为两档开关，“SHORT”短路档、“MEAS”测量档。7-(INPOT)-信号输入端口为5芯端口，是电压降信号输入和恒流电流输出的端口。8-（ZERO ADJ)-调零电位器，当我们在测试时，如果样品接触良好，在不加电的情况下，数字电压表读数应归零，如有偏差时，可通过调零电位器调节归零。9-(I ADJ)-电流调节电位器，可连续调节电流输出值0---1000（满刻度），与工作方式开关“I ADJ”配合使用，也可作为修正系数输入用。10-（CURRENT)-电流开关为电流加电开关，按入时，电流输出；退出时，电流断开。11-（POLARITY)-极性转换开关，可改变电流输出的正负极性。【2】测试架：测试架分为固定和手持式两种，根据使用环境的不同可自行选择，固定式测试架适合高精度的测量，探头固定在专用的测试架上，在实验室条件下，进一步提高了测量精度（见图4-4）。手持式Z大的优点是携带方便、测量方便，可直接在生产现场使用（见图4-3）。手持式测试探头简图4-3所示： 图中：1-测试导线 2-手柄 3-压力调节环 4-测试支架 5-探头和探针固定式测试架简图（4-4）所示： 图(4-4)固定式测试架图中：1-支杆 2-支架块 3-滑块 4-滑块调节（上下） 5-探头支架 6-探头和探针 7-可移动平台（前后） 8-滑槽 9-底板 10-支架块固定杆 11-探头导线 五、使用和操作（一）、测试准备：1.将仪器和试样放置在温度230C±20C，湿度﹤65%的工作环境中。2. 测试架和电气箱用输入输出连线连接好，仪器接通电源，工作方式开关置于短路位置，电流开关退出，接通220V电源，仪器预热半小时。3.测试架调好位置，放上试样，使探头与试样良好接触。(二)、测试：1.将工作方式开关置于“I调节”，按入电流开关，并调节电流电位器，使数字显示为你需要的电流值。注意：测试块状、棒状晶体和薄层方块电阻试样时，请调节电流电位器到“1000”，当测量薄片电阻率时，请根据试样厚度，查表得到修正系数值（厚度修正系数表见说明书末页），调节电位器到修正值。例如硅片厚度0.23㎜，查表得到0.1659，调节电流电位器，使显示值为166。2.根据被测材料，选择电压和电流量程，使显示值达到我们需要的精度。3.测量选择开关置于“测量”位置，根据不同的试样，工作方式开关置于不同位置，①块状、棒状样品和薄片样品电阻率测试请把开关放到“6.28”档；②薄层电阻测试请放到“4.53”档；③金属电阻测试请放到“I”档。4.检查显示屏显示是否为000，可以通过调零电位器，调整零位，使显示值为“000”。5.现在按入电流开关，应有显示，可配合电压和电流量程开关再一次调整，使显示值为我们需要的精度值。然后极性开关反转，把两次显示值平均后的值，即是我们要测量的值。（三）、注意事项：1.以上电阻率测试是在环境温度23℃下的值，如测试时环境温度有变，请考虑温度修正（温度修正系数Ft请用户根据不同材料自行查找，见公式3-5），输入K值时，K=Ft×K(修正到23℃）。实际测量，在输入电流值时，请乘以Ft值为电流实际输入值。例如：块状样品测试，“I ADJ”输入值为1000，此时我们应输入1000×Ft,测得的电阻率值是23℃时的修正值。2.当工作方式开关置于“6.28”进行测量，测量显示值为电阻率；当开关置于“4.53”时，显示值应读为R/□；在“I”档测量金属电阻，显示值应读为电阻R。3.测试架上的探头为易损件，测量时请小心加压，测试完毕，请及时升起探头。 六、复校和维修1.本仪器有自校功能，仪器内部设有精密电阻，当工作在自校档，按入电流开关后，显示自校值199X±6个字。自校档可作为检查仪器精度使用，为保证仪器测试精度，请定期对仪器进行复校，尤其是仪器进过剧烈震动和环境温度突变后，发现超差请及时送修。2.测试探头为易损件，请定期按照国标JJG508-87中规定，对探头进行复校。如超差，应更换新的探头。3.本仪器也可按照国标或ASTM84-73规定的指标和实验方法进行复校。七、仪器包装及附件1.电气箱一台2.测试架一台（固定、手持可选）3.四探针探头一个（已安装在测试架上）4.使用说明书一份5.电源线一根6.合格证一张7.四端子测试线一根

自动导体粉末电阻率测试仪采用PC软件自动测量，自动读取样品压缩过程中高度以及实时电阻/电阻率/电导率过程数据.自动生成报表，描述过程变化曲线图谱，自动步进加压，自动脱模，自动恒压测量，USB和232通讯端口，四端法测量模式，恒流源测量，自动档位切换，可选择压力量程，紫铜度金电极，旋转式电极结构，操作便利.自动导体粉末电阻率测试仪参照标准：GB∕T24521-2018炭素原料和焦炭电阻率测定方法 YS/T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6部分粉末电阻率的测定参数资料Parameters规格型号BEST-201C1.电阻10-5～2×106Ω2.电阻率范围10-5～2×106Ω-cm3.电导率5×10-6～105s/cm4.测试电流范围 1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA 5.测量电压量程 电压量程：2mV 分辨率20mV 200mV 2V：0.1uV 测量精度±（0.1%）6.电流精度±0.1%±0.2%7.电阻精度≤0.3%标准电阻,分辨率0. 1μΩ8.PC软件界面电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算、横截面、高度、曲线图谱、报表等.9.高度量程和精度高度测量范围：0.01-10.01mm，测量分辨率0.01mm10.恒压时间 0-99.9S11.标准件选购a.标准校准电阻1-3个； b.标准高度校准件1个.12.测试方式a.四端测量法 b.自动测量13.压力选购a.200kg； b.300kg； c.500kg； d.1000kg14.粉末模具标配：a.压力200kg和300kg机型模具内径10mm； b. 压力500kg和1000kg机型模具内径20mm； 模具行程高25mm ； 15.加压方式自动16.脱模方式自动17.电极材质 紫铜18.误差≤4%；重复性误差3%以内.（因不同材料本身特性因素影响，误差不同，人为因数除外）19.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：60W 20. 主机外形尺寸约About：H700mm*L650mm*D300mm 21.净重量约About 45kg 22. 标配外选购a.电脑和打印机依据客户要求配置； b.计量证书1份 c.水分仪 d.真密度仪适用范围Scope of application：需要对电性能进行分析的导电性粉末，如：锂电池材料、石墨烯、石墨类、碳素粉末、焦化、石化、粉末冶金等生产加工企业部门；高等院校、科研部门，质量检验机构，质量管理部门，研发部门等。粉体综合分析解决方案：粉体流动行为分析仪（静态力学，剪切法）粉体流动测试仪（动态力学，转鼓法或旋转圆筒法）粉末屈服强度分析仪（单轴压缩法）粉体压缩强度测试仪（可压性，压缩方程）颗粒和粉末特性分析仪系列(传统方法)系列粉末电阻率测试系统（电性能）----解决粉体表征：流与不流分析 ；粒度；水分；体积分析；电导性、静电电荷分析.----我们一直在做：研发、生产、销售、租赁、实验室样品分析及后延扩展服务.?本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门，是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具

一、设备概述：剩余电流保护器测试台是符合国家标准GB6829-2008《剩余电流动作保护电器的一般要求》和GB16917.1-2014《家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCBO)第1部分:一般规则》、GB 16916.1-2014《家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCCB) 第1部分:一般规则》中验证A/AC型交流脱扣器动作特性要求的专用测试仪器。 剩余电流动作保护器测试仪，又叫漏电开关检测仪、漏电保护器测试仪、剩余电流动作保护器检测仪、漏电开关测试仪、RCD检测仪，本仪器是相关产品生产厂家、质量监督检验所、工程质量监督站和建筑公司研究、检测必备的仪器，可以测量漏电开关的动作时间和动作电流。二、主要技术参数：1.仪器提供剩余电流：a.可调剩余(微调也能小范围调整)2～20mA、20～100mA二档；b.不可调剩余电流：150mA、200mA、250mA、375 mA、500mA共五档 2.测量量程：a. 剩余电流：20mA、200mA、2A三档；b. 动作时间：2s（超过可用循环读数累计）；3. 剩余电流动作时间0.001秒～99秒 4. 电流精度：剩余电流0.01 mA；5. 计时精度：动作时间1ms 6. 适合电压测试范围 AC50V～187V～220V～242V～AC450V范围内可预置输入，无需调试 7. 电压表精度±0.5 8. 验证自由脱扣功能 9. 试验装置可靠性：安匝数2.5倍 10. 低电压故障测试至AC50V 11. 符合新版本标准规定动作时间包括来电时间的测试要求 12. 仪器采用液晶触摸屏控制，自动测试漏动作电流 13. 台式结构：长1200mmX宽720mmX高1580mm.剩余电流保护器测试台试验电流大小可根据客户需求定制。工作原理：接触器的线圈是接于低压设备的控制回路中，当线圈两端电压达到额定值的70%以上时，使铁心磁饱和吸合衔铁，同时带动其主触点接通主电源至电气设备，当接触器的线圈失电后衔铁释放，主触点断开切断设备主电源。继电器的线圈根据直流、交流、电流、电压的不同接于相应的回路中，当满足线圈吸合的条件时，吸合衔铁，带动其常开常闭接点相应动作，在回路中起到不同的作用，有些继电器可长期带电，有些则不能，所以回路中有些继电器即便失电也不会造成电气设备的停运，而有些继电器即便得电业不会造成设备的启动运转满足标准：剩余电流保护器测试台是符合国家标准GB6829-2008《剩余电流动作保护电器的一般要求》和GB16917.1-2014《家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCBO)第1部分:一般规则》、GB 16916.1-2014《家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCCB) 第1部分:一般规则》中验证A/AC型交流脱扣器动作特性要求的专用测试仪器。

粉末电阻率测试仪 粉末半导体电阻其它物性测试仪GEST-126d产品型号：GEST-126参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdfGB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GBT 24521-2009 焦炭电阻率测定方法GB/T 3782-2016 乙炔炭黑-电阻率测试仪产品概述：粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测必备测试设备。 仪器主要技术指标： 一、测量范围：测量半导电电阻率时： 电阻率10-6—105Ω-cm；分辩率10-8Ω-cm测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率0.01uΩ二、 电压测量：1． 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V2． 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)3． 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。三、 恒流源：1． 电流输出： 10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A2. 电流误差：±(0.5%读数+2字)四、 数据打印：可对测试结果进行打印，显示结果为：体积电阻率、电阻值五、测量电极：1、电极材质：铜2、测量距离：10MM六、粉末套筒：1、内径：16mm2、行程：50 mm 七、粉末测试专用恒加载装置及测试电极：1、电极是双柱型、立式结构2、加载机构：步进电极3、加载方式：自动加载4、负荷传感器：10KN5、负荷显示方式：力值、压强6、负荷加载:设定好指定的负荷后,自动加载并恒负荷保持7、试验流程：把被测试样安装并固定好后，设定好要加载的负荷和保持时间，点击开始后，自动加载，到达设定的负荷后自动停止，到达设定的时间后，自动返回初始位。8、样品量和电极尺寸，依据客户要求协商确定。9、套筒内经:16MM/30MM\

品牌： 华科智源 名称： 浪涌电流测试仪 型号： HUSTEC-IFSM-1200A 用途： 浪涌电流是指电源线接通瞬间或是在电路出现异常情况下产生的远大于稳态电流的峰值产品详情华科智源-二极管浪涌电流是指电源线接通瞬间或是在电路出现异常情况下产生的远大于稳态电流的峰值电流或过载电流。半导体器件在工作时，有时要承受较大的冲击电流，器件的用途不同，要求器件能承受浪涌电流的能力也不同，为了检测器件承受浪涌电流的能力，可产生一个大的浪涌电流施加于被测器件上，从而检测被测器件是否能承受大浪涌电流的冲击。华科智源浪涌电流试验仪的测试方法符合JB/T7626-2013中的相关标准。浪涌电流试验台，是二极管等相关半导体器件测试的重要检测设备，该设备具有如下特点：1、该试验台是一套大电流、高电压的测试设备，对设备的电气性能要求高。2、该试验台的测试控制完全采用自动控制，测试可按测试员设定的程序进行自动测试。3、该试验台采用计算机记录测试结果，并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理。4、该套测试设备主要由以下几个单元组成： a、浪涌测试单元 b、阻断参数测试单元 c、计算机控制系统二、技术条件2.1 环境要求：1、环境温度：15—40℃2、相对湿度：存放湿度不大于80%3、大气压力：86Kpa—106Kpa4、海拔高度：1000米以下5、电网电压：AC220V±10%无严重谐波6、电网频率：50Hz±1Hz7、电源功率：小于1.5KW8、供电电网功率因数：＞0.92.2主要技术指标：1、浪涌电流（ITSM/IFSM）测试范围：30～1200A；选配3000A,8000A,20kA,50kA等2、浪涌电流（ITSM/IFSM）精度要求：显示分辨率1A精度±3% 浪涌电流（ITSM/IFSM）波形：近似正弦半波；3、 浪涌电流底宽：8.3和10ms；选配1ms,10us等4、 测试频率：单次；重复5、 反向电压（VRRM）测试范围：200～2000V；6、 反向电压（VRRM）显示分辨率10V，精度±3%；7、 反向电压频率：DC直流8、 各种模块均手动连接，并以单管形式测试。9、 采用计算机控制、采样及显示；

配电网电容电流测试仪,高压电容电流测试仪电力推荐的华宝牌配电网电容电流测试仪直接从PT的二次侧测量电容电流而无需和一次侧打交道因而更安全，无需繁杂的安全措施调度命令，只需接于PT的开口三角端就可测量，异频测试信号抗干扰能力强，不会对保护和PT产生影响。HB-DRL， QQ11231349681、直接从PT的二次侧测量电容电流而无需和一次侧打交道因而更安全2、无需繁杂的安全措施调度命令，只需接于PT的开口三角端就可测量3、异频测试信号抗干扰能力强，不会对保护和PT产生影响4、实时测量和显示零序3U0电压值,如果零序3U0电压过高,可自动停止测量5、具备多重零序3U0过压保护电路，输出端可耐受100V的交流电压，若系统有单相接地故障不会损坏PT和测试仪，因而无需做特别的安全措施，使得安全简单快捷，测试结果准确稳定可靠。6、测量数据分为本机存储和优盘存储，本机可存储测量数据150条，可转存至优盘；优盘存储数据格式为Word格式，可直接在电脑上编辑打印。7、全数字变频逆变电源，输出频率准确、电流可调，具备输出短路保护功能。8、大屏幕彩色液晶显示，中文菜单，操作简便，体积小重量轻便于携带9、电容电流测量范围：1A～250A 0.3μF～125μF 电压等级：1KV、3KV、6KV、6.3KV、10KV、20KV、35KV、66KV 关键词：配电网电容电流测试仪,高压电容电流测试仪,电容电流测试仪详情请登录：或查询 HB是华宝电气的简称，购买时请认准青岛华宝电气以防假冒

产品概要：FS-Pro 半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压(IV) 测试、电容电压(CV)测试、脉冲式 IV 测试、高速时域信号采集以及低频噪声测试能力。一套设备可完成半导体器件的全部低频特性表征，其强大而全面的测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发评估进程，可无缝地与 9812 噪声测试系统集成，其快速 DC 测试能力进一步提升了 9812 系列产品的噪声测试效率。基本信息：软件功能：FS-Pro 系列内置 LabExpress 测量软件具有强大的测试和分析功能，该软件提供友好的图形化用户使用界面和灵活的设定，具有下列主要功能 :1、完整支持直流，脉冲，瞬态，电容和噪声测试功能2、内置的常见器件测试预设可大大提高测试设置效率，帮助新手操作者快速完成测试3、强大的自定义设定功能可以灵活编辑电信号4、内置强大数据处理能力可测试后直接展开器件特性分析5、多种数据保存方式，导出数据可供用户后续分析研究也可直接导入建模软件 BSIMProPlus 和 MeQLab 进行模型提取和特性分析6、LabExpress 专业版支持对主流半自动探针台和矩阵开关设备的控制，支持晶圆映射、并行测试实现自动测试功能，进一步提升测试效率IV电流电压测试CV电容电压测试1/f噪声测试 IVT测试采用工业通用的 PXI 模块化硬件结构，配合自主开发的测试软件 LabExpress，FS-Pro 在半导体工业产线测试与科研应用方面都具有优秀的性能表现，可广泛应用于各种半导体器件、 LED 材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试等。LabExpress 为用户提供了丰富的测试预设和强大的测试功能，可实现非常友好的用户即插即用体验； 该系统还可支持多通道并行测试，进一步提升测试效率。技术优势：1、同时具备高速高精度直流测试和脉冲测试能力2、量程范围宽、测试速度快3、支持小于1us采样时间的高速时域信号采集4、高达10万点的数据量可以精细描绘信号随时间变化特性5、低频噪声(1/f noise,flicker noise)测试能力特别是RTN(随机电报噪声)测试能力与对准能力6、使用方式简单灵活，无需编程即可实现自由的波形发生或电压同步与跟随7、支持并行测试，内置功能强大的测试软件和算法，支持多通道并行测试成倍提升测试效率8、系统架构，PXI标准机箱，可扩展架构,支持通过多机箱扩展SMU卡数量应用方向：被半导体工业界和众多知名大学及科研机构采用作为标准测试仪器。

FT-300系列导体粉末电阻率测试仪（手动型） 概述：采用四端测量法适用于锂电池材料、石墨烯、石墨类、碳素粉末、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部门，是检验和分析导电粉末样品质量的一种工具。采用4.3吋液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，标配FT-01A手动粉末测量装置.薄膜按键开关面板，提供中文或英文两种语言操作界二．参照标准：YST 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6部分 粉末电阻率的测定；标配手动粉末测试装置,测试粉末时可以通过装置获得粉末压实后高度、直径、压强等数据，自动计算出所需数据.能方便解决粉末及颗粒物料电阻、电阻率及电导率测量需求..三．型号及指标： 规格型号 FT-300IFT-300II1.电阻10-7～2×107Ω10-6～2×106Ω2.电阻率范围10-7～2×107Ω-cm10-6～2×106Ω-cm3.电导率5×10-7～107s/cm5×10-6～106s/cm4.测试电流范围 1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA5.测量电压量程测量电压量程：2mV 20mV 200mV 2V测量精度±（0.1%读数）分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV6.电流精度 ±0.1%±0.2% 7.电阻精度≤0.3%标准电阻≤0.3%标准电阻8.显示读数液晶显示：电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算、横截面、高度，上下限警报9.测试方式四端测量法10.高度量程和精度高度测量范围：0.01-10.01mm，测量分辨率0.01mm11.压力范围选购a.200kg； b.300kg； c.500kg； d.1000kg 12.粉末测量装置 标配：a.压力200kg和300kg机型模具内径10mm； b. 压力500kg和1000kg机型模具内径20mm； 模具行程高25mm ；加压方式：手动液压加压测量 13.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W14.外形尺寸主机Mainframe：约L330mm*D350mm*H120mm 手动装置about：约H450mm*L200mm*D120mm15.净重量约35kg16. 标配外选购a.标准校准电阻1-5个；b.PC软件一套；c.电脑和打印机依据客户要求配置；d.计量证书1份 ，e. 高度校准塞规1个

1.双电测四探针法测试薄层样品方阻计算和测试原理如下：直线四探针测试布局如图8，相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理：当电流通过1、4探针，2、3探针测试电压时计算如下：四探针测试结构当电流通过1、2探针，4、3探针测试电压时计算如下：从以上计算公式可以看出：方阻RS只取决于R1和R2，与探针间距无关．针距相等与否对RS的结果无任何影响，本公司所生产之探针头全部采用等距，偏差微小，对测试结果更加精准。本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可(1)量程： 20.00mV～2000mV (2)误差：±0.1%读数±2 字数控恒流源 (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，100mA，1A (2)误差：±0.1%读数±2 字所给出的某一合适值，测量并记录所得数据，所有测试数据至少应取三位有效数字。改变电流方向，测量、记录数据。关断电流，抢起探针装置，对仲裁测量，探针间距为1.59

半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。而且使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的不确定度及更慢的总线传输速度等缺点。 实施特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）。普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、率先国产化的源表系列产品，集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。普赛斯“五合一”高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉，都能简单而迅速地得到精确的结果。 普赛斯“五合一”高精度数字源表 普赛斯源表轻松实现二极管特性参数分析 二极管是一种使用半导体材料制作而成的单向导 电性元器件，产品结构一般为单个PN结结构，只允许电流从单一方向流过。发展至今，已陆续发展出整流二 极管、肖特基二极管、快恢复二极管、PIN二极管、光电 二极管等，具有安全可靠等特性，广泛应用于整流、稳压、保护等电路中，是电子工程上用途最广泛的电子元器件之一。IV特性是表征半导体二极管PN结制备性能的主要参数之一，二极管IV特性主要指正向特性和反向特性等； 普赛斯S系列、P系列源表简化场效应MOS管I-V特性分析 MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是 一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体器件，可以广泛应用在模拟电路和数字电路当中，MOSFET可以由硅制作，也可以由石墨烯，碳纳米管 等材料制作，是材料及器件研究的热点。主要参数有输入/输出特性曲线、阈值电压 VGS(th)、漏电流IGSS、 IDSS，击穿电压VDSS、低频互导gm、输出电阻RDS等。 普赛斯数字源表快速、准确进行三极管BJT特性分析 三极管是半导体基本元器件之一，具有电流放大作用，是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体 基片上制作两个相距很近的PN结，两个PN结把整块 半导体分成三部分，中间部分是基区，两侧部分是发射 区和集电区。设计电路中常常会关注的参数有电流放大系数β、极间反向电流ICBO、ICEO、集电极最大允许电流ICM、反向击穿电压VEBO、VCBO、VCEO以及三极管的输入输出特性曲线等参数。 普赛斯五合一高精度数字源表（SMU）在半导体IV特性测试方面拥有丰富的行业经验，为半导体分立器件电性能参数测试提供全面的解决方案，包括二极管、MOS管、BJT、IGBT、二极管电阻器及晶闸管等。此外，普赛斯仪表还提供适当的电缆辅件和测试夹具，实现安全、精确和可靠的测试。欲了解更多半导体分立器件测试系统的信息，欢迎随时来电咨询普赛斯仪表！

全自动半导体粉末电阻率其测试仪GEST-126.产品型号：GEST-126参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdfGB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GBT 24521-2009 焦炭电阻率测定方法GB/T 3782-2016 乙炔炭黑-电阻率测试仪产品概述：粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测必备测试设备。 仪器主要技术指标： 一、测量范围：测量半导电电阻率时： 电阻率10-6—105Ω-cm；分辩率10-8Ω-cm测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率0.01uΩ二、 电压测量：1． 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V2． 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)3． 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。三、 恒流源：1． 电流输出： 10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A2. 电流误差：±(0.5%读数+2字)四、 数据打印：可对测试结果进行打印，显示结果为：体积电阻率、电阻值五、测量电极：1、电极材质：铜2、测量距离：10MM六、粉末套筒：1、内径：16mm2、行程：50 mm 七、粉末测试专用恒加载装置及测试电极：1、电极是双柱型、立式结构2、加载机构：步进电极3、加载方式：自动加载4、负荷传感器：10KN5、负荷显示方式：力值、压强6、负荷加载:设定好指定的负荷后,自动加载并恒负荷保持7、试验流程：把被测试样安装并固定好后，设定好要加载的负荷和保持时间，点击开始后，自动加载，到达设定的负荷后自动停止，到达设定的时间后，自动返回初始位。8、样品量和电极尺寸，依据客户要求协商确定。9、套筒内经:16MM/30MM\

粉末电阻率测试仪产品名称：冠测仪器粉末电阻率测试仪FTDZ-I产品型号：FTDZ-I参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdfGB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GBT 24521-2009 焦炭电阻率测定方法GB/T 3782-2016 乙炔炭黑-电阻率测试仪产品概述：粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测必备测试设备。

微机继电保护测试仪,微机继保仪,继电保护测试仪铁路专用微机继保仪,机车微机继电保护测试仪,地铁专用继电保护测试仪华宝牌微机继电保护测试仪，微机继保仪是华宝电气生产供应的，青岛市平度华宝电气有限公司研制生产的微机继电保护测试仪，微机继保仪功率大、质量好、功能全、保护完善是电力部门推荐产品HB-K20086，1、嵌入式真彩工控机也可外接笔记本电脑2、Windows XP操作系统自带恢复系统，上位机USB连接，具备GPS同步试验功能3、主控板采用DSP+FPGA结构，功放采用高效耐用高保真线性功放4、自动手动测试各种继电器、及整组试验，具有精度软件自较准功能5、输出6路电压6路电流轻松实现差动试验6、ACA6×40A或1×90A，DCA3×20A，ACV 6×120V，DCV0～250V，3U00～120V， 频率0～1000Hz，相位0～360度，时间 0～999。999S，输出功率1000VA7、外形440×180×320mm,重16Kg8、保护完善，升级简单、掌握迅速关键词：微机继电保护测试仪,智能型微机继保仪,微机继保仪,继电保护测试仪铁路专用微机继保仪,机车微机继电保护测试仪,地铁专用继电保护测试仪 。 HB是华宝电气的简称，购买时请认准青岛华宝电气以防假冒

设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪，具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析，空间分辨率＜ 800nm （典型值），也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。设备具有智能化的软件，可对数据进行拟合计算，直接将载流子浓度、晶化率、应力大小或者分布等结果直观的展现给用户。系统稳定，重复性好，可用于实验室检验或者产线监测。① 光路接口盒：内置常用激光器及激光片组，拓展激光器包含自由光及单模光纤输入；② 光路转向控制：光路转向控制可向下或向左，与原子力、低温、探针台等设备连用，可升级振镜选项③ 明视场相机：明视场相机代替目镜④ 显微镜：正置科研级金相显微镜，标配落射式明暗场照明，其它照明方式可升级⑤ 电动位移台：75mm*50mm 行程高精度电动载物台，1μm 定位精度⑥ 光纤共聚焦耦合：光纤共聚焦耦合为可选项，提高空间分辨率⑦ CCD- 狭缝共聚焦耦合：标配CCD- 狭缝耦合方式，可使用光谱仪成像模式，高光通量⑧ 光谱CCD：背照式深耗尽型光谱CCD相机， 200-1100nm 工作波段，峰值QE ＞ 90%⑨ 320mm 光谱仪：F/4.2高光通量影像校正光谱仪， 1*10-5 杂散光抑制比SPM300 半导体参数测试仪主要应用选型表型号描述SPM300-mini基础款半导体参数分析仪，只含一路532nm 激光器，常规正置显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台SPM300-SMS532多功能型半导体参数分析仪，含532nm 激光器，常规正置显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台，可升级耦合最多4 路激光器SPM300-OM532开放式半导体参数测试仪，含532nm 激光器，定制开放式显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台，可升级耦合最多4 路激光器系统参数项目详细技术规格光源标配532nm，100mW 激光器，其他激光可选，最多耦合4 路激光，可电动切换，功率可调节光谱仪320mm 焦距影像校正光谱仪，光谱范围90-9000cm-1,光谱分辨率2cm-1空间分辨率1μm样品扫描范围标配75mm*50mm，最大300mm*300mm显微镜正置显微镜，明场或者暗场观察，带10X,50X,100X 三颗物镜；开放式显微镜可选载流子浓度分析测试范围测试范围1017 ~ 1020 cm-3，重复性误差5%应力测试可直观给出应力属性（拉力/ 张力），针对特种样品，可直接计算应力大小，应力均匀性分析（需额外配置电动位移台）, 应力解析精度0.002cm-1晶化率测试可自动分峰，自动拟合，自动计算出晶化率，并且自动计算晶粒大小和应力大小测试案例举例

产品简介 ULWJ-802系列微机继电保护测试仪又称三相微机继电保护测试仪及三相微机继电保护校验仪，三相微机继电保护测试仪是继电保护专用电力测试仪。三相微机继电保护测试仪具有4相电压3相电流输出，适用于各种类型继电保护装置试验。三相微机继电保护测试仪每相电压可输出120V，电流三并可输出120A，第4相电压Ux为多功能电压项，可设为4种3U0或检同期电压，或任意某一电压值的情况输出。 ULWJ-802系列微机继电保护测试仪是 在参照电力部颁发的《微机型继电保护试验装置技术条件(讨论稿)》的基础上，广泛听取用户意见，总结目前国内同类产品优缺点，充分使用现代先进的微电子技术和器件实现的一种新型小型化微机继电保护测试仪。该三相微机继电保护测试仪采用高性能工控机作为控制微机，直接运行Windows操作系统，装置面板带有8.4"TFT真彩色LCD显示器、轨迹球和优化键盘，不用外接鼠标或键盘就可直接使用。装置背板设有USB口、10-100M网口、串行通信口等，可方便地进行数据存取、数据通信和进行软件升级等。该三相微机继电保护测试仪在试验的全过程及试验结果均在LCD显示屏上显示，全套汉字化操作界面，清晰亮丽，直观方便。操作控制由轨迹球和面板键盘进行。操作简单方便，只需简单的计算机知识，极易掌握。3相微机继电保护测试仪是继保测试工作者得心应手的好工具。主要特点 1、电压电流输出灵活组合： 三相微机继电保护测试仪具有标准4相电压3相电流输出，可方便地进行各种组合输出进行各种类型保护试验。每相电压可输出120V，电流三并可输出120A，第4相电压Ux为多功能电压项，可设为4种3U0或检同期电压，或任意某一电压值的情况输出。 2、操作方便：该三相微机继电保护测试仪面板设有轨迹球鼠标、优化键盘以及大屏幕TFT液晶显示器，该三相微机继电保护测试仪内置全中文Windows平台操作软件。开机即可使用，操作方便快捷。 3、双操作方式：除了单机操作外，三相微机继电保护测试仪还可以外接笔记本电脑或台式机进行操作，两种方式功能完全一致，真正完整的双操作模式。 4、新型高保真线性功放：输出端一直坚持采用高保真、高可靠性模块式线性功放，而非开关型功放，性能卓越。不会对试验现场产生高、中频干扰，而且保证了从大电流到微小电流全程都波形平滑精度优良。 5、高性能主机：该三相微机继电保护测试仪输出部分采用DSP控制，运算速度快，实时数字信号处理能力强，传输频带宽，控制高分辨率D/A转换。输出波形精度高，失真小线性好。采用了大量先进技术和精密元器件材料，并进行了专业化的结构设计，因而装置体积小、重量轻、功能全、携带方便，开机即可工作，流动试验非常方便。 6、软件功能强大：该三相微机继电保护测试仪可完成各种自动化程度高的大型复杂校验工作，能方便地测试及扫描各种保护定值，进行故障回放，实时存储测试数据，显示矢量图，联机打印报告等。 7、该微机继电保护测试仪具有独立专用直流电源输出：装置设有一路110V及220V专用可调直流电源输出。 8、接口完整：装置面板上有自带键盘和鼠标，能进行单机操作，也可通过键盘和鼠标接口外接键盘和鼠标进行操作；还带有两个USB口和RS232口，可与计算机及其它外部设备通信。 9、保护功能：散热结构设计合理，硬件保护措施可靠完善，该微机继电保护测试仪具有电源软启动功能，软件对故障进行自诊断以及输出闭锁等功能。 10、轻小型高集成单机和一体化结构：三相微机继电保护测试仪采用了大量高科技精心设计的超轻小型结构，使得整机极其小巧轻便。技术参数1．交流电流源单相电流输出（有效值）0 - 40A/相，精度：0.2% ±5mA三相并联输出(有效值)0 - 120A/三相同相位并联输出三相电流长时间允许值10A每相最大输出功率 420VA三相并联电流最大输出功率1000VA三并电流最大输出工作时间 10s频率范围0 - 1000Hz，精度0.01Hz谐波次数2 - 20次相位0 - 360°，精度0.1°2．直流电流源直流电流输出0--±20A/相，精度：0.2% ±5mA3．交流电压源单相电压输出（有效值）0--125V/相，精度：0.2% ±5mV线电压输出（有效值）0--250V相电压/线电压输出功率75VA/100VA频率范围0--1000Hz，精度：0.001Hz谐波次数2--20次相位0--360°，精度：0.1°4．直流电压源单相电压输出幅值0--±150V，精度：0.2% ±5mV线电压输出幅值0--±300V相电压/线电压输出功率90VA/180VA5．开关量端子开关量输入端子8对空接点1--20mA，24V 装置内部有源输出电位翻转无源接点：低阻短接信号有源接点：0-250V DC开关量输出端子4对，空接点，遮断容量：110V/2A，220V/1A6．其他时间范围1ms--9999s，测量精度：1ms体积重量体积 460 (mm)×250 (mm)×580 (mm)，约27Kg电源AC220V±10%，50Hz，10A型号对比802系列三相继电保护测试仪型号对比 型号 ULWJ-802ULWJ-802AULWJ-802Bb国产工控机台湾产工控机研华PC104工业级工控机显示屏台湾友达TFT显示屏日本夏普显示屏日本夏普显示屏功放模块国产功放模块国产插件日产功率模块全进口功放模块，稳定性极高 精度电压电流0.5级±5mA电压电流0.2级±5mA电压电流0.1级±5mA 交流电流输出(有效值)AC:3x40A,420W/相AC:3x40A,420W/相AC:3x40A,420W/相 交流电压输出(有效值)AC:4x125V,75W/相AC:4x125V,75W/相AC:4x125V,75W/相直流电流输出DC:3x20A,200W/相DC:3x20A,200W/相DC:3x20A,200W/相直流电压输出DC:4x150V,90W/相DC:4x150V,90W/相DC:4x150V,90W/相交流电流并联AC:120A,最大800WAC:120A,最大800WAC:120A,最大800W直流线电压DC:300V,最大180WDC:300V,最大180WDC:300V,最大180W交流线电压AC:250V,最大100WAC:250V,最大100WAC:250V,最大100W频率范围0--1000Hz，精度：0.001Hz0--1000Hz，精度：0.001Hz0--1000Hz，精度：0.001Hz谐波次数2--20次2--20次2--20次相位0--360°，精度：0.1°0--360°，精度：0.1°0--360°，精度：0.1°开关量输入8对8对8对点位翻转低阻信号或有源节点低阻信号或有源节点低阻信号或有源节点开关量输出4对，遮断容量：220V/1A4对，遮断容量：220V/1A4对，遮断容量：220V/1A时间范围1ms--9999s，精度：1ms1ms--9999s，精度：1ms1ms--9999s，精度：1ms主机尺寸410 x 190 x 420 mm410 x 190 x 420 mm410 x 190 x 420 mm单机重量20.5kg20.5kg20.5kg外机箱尺寸470 x 250 x 560 mm470 x 250 x 560 mm470 x 250 x 560 mm包装箱尺寸540 x 320 x 650 mm540 x 320 x 650 mm540 x 320 x 650 mm包装后重量38kg（采用标准进出口木箱）38kg（采用标准进出口木箱）38kg（采用标准进出口木箱）

产品简介ULWJ-1200系列六相继电保护测试仪 又称微机继电保护测试仪、六相继电保护测试仪、六相继保仪、六相微机继保仪、六相继保测试仪及工控机六相微机继电保护测试仪，六相微机继电保护测试仪是继电保护装置专用电力测试仪。六相微机继电保护测试仪是 参照《微机型继电保护试验装置技术条件》依据继电保护测试标准GB7261-2008而研发的一种新型工控微机继电保护测试仪。ULWJ-1200系列六相继电保护测试仪 装置有8路开入和4路开出，六相微机继电保护测试仪开关量输入电路可兼容空接点和0～250V电位接点，电位方式时，0～6V为合，11～250V为分，微机继电保护测试仪开关量可以方便地对各相开关触头的动作时间和动作时间差进行测量，UAWJ-1200A六相微机继电保护测试仪采用高速数字控制处理器作为输出核心，六相微机继电保护测试仪软件上应用32位双精度算法产生各相任意的高精度波形由于采用内部源独立处理结构，结构紧凑，修正了笔记本电脑直接控制式测控仪中因数据通信线路长、频带窄导致的输出波形点数少的问题，六相微机继电保护测试仪是继保工作者得心应手的好工具。主要特点 1、满足现场所有试验要求。本仪器具有标准的六相电压，六相电流输出，电压125V/相，电流30A/相。六相并联可达180A。既可对传统的各种继电器及保护装置进行试验，也可对现代各种微机保护进行各种试验，特别是对变压器差功保护和备自投装置，试验更加方便和完美。 2、各种技术指标完全达到电力部颁发的DL/T624-1997《继电保护微机型试验装置技术条件》的标准。 3、经典的Windows XP操作界面，人机界面友好，操作简便快捷；高性能的嵌入式工业控制计算机和8.4寸分辨率为800×600的TFT真彩显示屏，可以提供丰富直观的信息，包括设备当前的工作状态及各种帮助信息等。 4、本机Windows XP系统自带恢复功能，避免因非法关机或误操作等引起的系统崩溃。 5、配备有超薄型工业键盘和光电鼠标，可以象操作普通PC机一样通过键盘或鼠标完成各种操作。 6、主控板采用DSP+FPGA结构，16位DAC输出，对基波可产生每周2000点的高密度正弦波，大大改善了波形的质量，提高了测试仪的精度。 7、功放采用高保真线性功放，既保证了小电流的精度，又保证了大电流的稳定。 8、采用USB接口直接和PC机通讯，无须任何转接线，方便使用。 9、可连接笔记本电脑（选配）运行。笔记本电脑与工控机使用同一套软件，无须重新学习操作方法。 10、具备GPS同步试验功能。装置可内置GPS同步卡（选配）通过RS232口与PC机相连，实现两台测试仪异地进行同步对调试验。 11、配有独立专用直流辅助电压源输出，输出电压分别为110V（1A），220V（0.6A）。以提供给需要直流工作电源的继电器或保护装置使用。 12、具有软件自较准功能，避免了要打开机箱通过调整电位器来校准精度，从而大大提高了精度的稳定性。技术参数产品型号ULWJ-12001．交流电流源单相电流输出（有效值）0 - 30A/相，精度：0.2% ±5mA六相并联输出(有效值)0 - 180A/六相，同相位并联输出相电流长时间允许工作值(有效值)10A每相最大输出功率 320VA六相并联电流最大输出功率1000VA六并电流最大输出允许工作时间 10s频率范围0 - 1000Hz，精度0.01Hz谐波次数2 - 20次相位0 - 360°，精度0.1°2．直流电流源直流电流输出0--±20A/相，精度：0.2% ±5mA2．交流电流源相电压输出（有效值）0--125V/相，精度：0.2% ±5mV线电压输出（有效值）0--250V相电压/线电压输出功率75VA/100VA频率范围0--1000Hz，精度：0.001Hz谐波次数2--20次相位0--360°，精度：0.1°4．直流电压源相电压输出幅值0--±150V，精度：0.2% ±5mV线电压输出幅值0--±300V相电压/线电压输出功率90VA/180VA5．开关量端子开关量输入端子8对空接点1--20mA，24V 装置内部有源输出电位翻转无源接点：低阻短接信号有源接点：0-250V DC开关量输出端子4对，空接点，遮断容量：110V/2A，220V/1A6．其他时间范围1ms--9999s，测量精度：1ms体积重量体积 570 (mm)×250 (mm)×580 (mm)，约32Kg电源AC220V±10%，50Hz，10A

半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 产品介绍：载流子表征的最佳工具本系统针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。利用一单色 (单波长) 的光源，对其进行连续脉冲或是周期性的光强调制后，照射到光电器件产生光生电流或是光生电压讯号，并对此进行频域或时域的测量与分析，得到光电器件光电转换过程的重要参数。包含频率响应、爬升/下降时间、LDR线型动态范围、瞬态光电压 (TPV) 、瞬态光电流 (TPC) 等光电转换能力评价参数。用以了解光电器件内部结构与载流子动力学、内部材料组成、器件结构与载流子动力学之关系。作为光电器件特性评价与性能改进的参考。半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 特色：光强线性度测量与分析频率响应测量 0~40MHz可选雷射模块系统波长雷射光调变控制频率响应测量与分析截止频率 (Cut Frequency) 计算分析Rise/ Fall time 测量与分析TPC/TPV 测量与分析高动态光强变化光学调变模块，可自动调变强度 6 个数量级半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 规格TPC/TPV 量测功能雷射波长：半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 应用：有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)新型材料光传感器实证Cs2Pb(SCN)2Br2 单晶光电器件性能表征2021 年 Advanced Materials 期刊报导了第一种无机阳离子拟卤化物二维相钙钛矿单晶 Cs2Pb(SCN)2Br2。作者使用 PD-RS 系统对单晶光电器件进行多种的光电转换响应行为进行测量与分析。其中包含：变光强 IV 曲线测试。变光强光电流与响应度变化测试。定电压下光电转换爬升与下降时间测试。恒定光强脉冲光的时间相关光电流响应测试。TPC/TPV 瞬态光电流/光电压测试。 恒定光强脉冲光的光电流时间响应PD-RS 系统具备高速调制能力的激光器 (爬升/下降时间 5ns)，在恒定光强脉冲光条件下，可以对器件进行光电流时间响应测试，并且分析光电器件的爬升/下降时间的分析。以了解光电器件最快的时间响应极限特征。变光强光电流与响应度变化测试 (LDR) PD-RS 具备 120 dB 光强动态范围测试能力。在软件自动化的测试光电流的变化，绘制出待测器件的线性动态范围响应图 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 试评估光电器件特性的一项重要指标。由光电流与光强的测试可以得到响应度 (mA/W) 变化，是常用于表征光电器件优劣的参数。

产品概要：低成本高性能晶圆ESD测试仪，从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电 ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail 并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试 对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数，是满足日本、国际标准的高可靠性设备。(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格)基本信息：技术优势：1.HBM波形在晶圆级实时捕获2.符合J EDEC、ESDA和JEITA标准3.提高效率，使用一个测试仪执行两个测试4.Zap装置可以安装在探测站上5.封装级性能可以从晶圆级测试结果推断出来6.可选HMM zap测试(IEC 61000-4-2)应用方向：

光电流、开路电压的瞬态特性、载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程等是表征新型太阳电池器件的重要参数。由于新型太阳电池器件存在面积小、光电流小等特性，非常难以准确测量出光电流随时间的变化，我们可以利用光焱科技TPC/TPV钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪，对有机太阳能电池OPV、钙钛矿太阳能电池PSC、量子点太阳能电池、染料敏化太阳能电池DSSC、无机太阳能电池等光电器件进行微观机理测试，进而全面分析光电器件中的载流子特性和瞬态过程。光焱科技-钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪（TPC/TPV）钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪原理钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一，它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪实现了对电荷抽取和电荷传输能力的表征，研究光生电子的传输行为，其光电压响应包括上升和衰退两部分，光电压上升部分在物理上对应于导电基底电子浓度增加，此过程由光生电子扩散到达基底引起，光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程，是光生载流子动力学及光生电子的传输行为的研究利器。钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪范围有机太阳能电池OPV无机半导体光电器件有机半导体光电器件染料敏化太阳能电池DSSC钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪测试数据TPVTPC

Agilent 4155C HP 4155C半导体测试仪含探针，探台洗个头涨价洗个车涨价做个美甲涨价只剩下我不涨价，还想尽一切办法给你们优惠 HP 4155C半导体测试仪含探针，探台品牌：安捷伦/Agilent型号：4155C类型：参数分析仪结构：台式TB店铺：东莞市天兴电子科技 Agilent 4155C 半导体测试仪含探针 探台Agilent 4155C半导体参数分析仪是一款经济高效、适用于先进器件表征的实验室用台式解决方案。41501B Expander 可将仪器的测量范围扩展至 1A/200V，并为 4155C 添加低噪声接地单元和双脉冲发生器。您还可以通过 PC 使用 Desktop EasyEXPERT 软件控制 4155B/C 或 4156B/C 参数分析仪。随 4155C/4156C 一起提供的新版 Keysight Desktop EasyEXPERT 软件也可控制 Keysight 4155B/C 和 4156B/C 参数分析仪。 Agilent 4155C 半导体测试仪含探针 探台主要特性经济高效、精确的实验室用台式参数分析仪4x 中等功率 SMU、2xVSU 和 2xVMU填空式前面板操作包括 Desktop EasyEXPERT 软件，可在 PC 上通过 GUI 对仪器进行控制测量能力10 fA 和 0.2 mV 测量分辨率QSCV、强化测试模式、旋钮扫描和待机功能可选的 41501B 可提供 +/- 200 V 和 +/- 1 A 大功率 SMU、脉冲发生器功能 41501BDesktop EasyEXPERT 软件提供直观、面向任务的参数测试方法配有 80 多个预定义、用户可修改的应用测试自动将数据保存到硬盘或任何网络硬盘通过 Desktop EasyEXPERT 软件进行离线数据分析和应用测试开发 东莞市天兴电子科技有限公司，型号齐全货源充足、库存雄厚，15年实体经营，保障品质，本公司产品原装进口，购买的产品均享有原厂质保，终身售后服务。天兴还经营二手仪器仪表。针对客户的生产计划可以提供销售、租赁、租赁转销售等灵活的业务；支持以旧换新、以租代购。回收闲置、库存、二手仪器。每月的第三周举行zui红一周优惠促销活动。不定时低价出售库存产品。

产品概要：瞬态热阻测试仪是一种用于材料科学领域的仪器。基本信息：技术优势：1、温控设备参数：冷媒：硅油；温度范围：-20°C ~ 150°C；温度误差：≤0.1°C；显示分辨率：0.01°C；支持所有工位同时测量2、标定控制：自动温度稳定判断；自动样品电压稳定判断；支持用户设定稳定容判据；支持迟滞消除；支持用户设定标定点数；支持所有测量通道同时标定3、历史数据保存：保存标定过程数据&bull 设定温度VS时间&bull 实际温度VS时间&bull 样品电压VS时间；通过历史数据记录可4、输出结果： K系数标定数据（电压VS温度）；包括NTC/PTC的拟合结果；支持多种数据拟合方式；各个K系数拟合度R2值；支持多个K系数曲线对比5、支持全测量通道同步温度系数标定：可对样品芯片电压温度特性进行标定；可对样品模块中的NTC/PTC进行标定；完整记录测试过程中所有采集参数应用方向：主要应用于半导体器件、LED光电器件等热学分析、测试，具体包括：测试该器件的热阻、结温、同一封装器件不同封装材料的热阻（积分、微分曲线结构函数等）。