首页> 网络讲堂> 半导体封装检测技术与应用 主题网络研讨会

研讨会介绍

半导体封装是半导体产业链的重要组成部分。半导体制造工艺的进步也在推动封装企业不断追求技术革新,持续加大研发投资。在半导体产业强势发展下,半导体行业对半导体封装设备的质量、技术参数、稳定性等有严苛的要求,因此其中涉及的检测技术至关重要。

基于此,仪器信息网将于2022年4月28日举办”半导体封装检测技术与应用“主题网络研讨会,邀请业内专家进行精彩报告分享,旨在为广大半导体封装行业用户、检测人员和相关学者提供一个线上近距离交流平台。


报告内容

半导体封装检测技术与应用
会议时间 会议主题 演讲人
2022年04月28日
09:30 - 17:00
精彩回放 高灵敏cmos EBSD技术在封装行业的应用 马岚(牛津仪器科技(上海)有限公司)
精彩回放 布鲁克3D光学仪器在半导体封测工艺上的应用 王书瑞(布鲁克(北京)科技有限公司)
精彩回放 封装材料高温高湿可靠性检测新方法及应用 石琳琳(英国SMS仪器公司)
精彩回放 高分辨CT和高速CT在电子制造领域的应用 李策(天津三英精密仪器股份有限公司)
精彩回放 1200V碳化硅功率模块封装与应用 田鸿昌
精彩回放 可靠性评估的功率循环测试技术 邓二平
精彩回放 面向感存算一体化应用的先进封装技术浅探 王刚
精彩回放 检测技术的进步对于集成电路先进制程 CPI(Chip and Package Interaction)研发的意义 费春潮
精彩回放 芯片封装及表面贴装后失效根因的追溯与分析 张兮

参会条件

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