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可靠性评估的功率循环测试技术

主讲人:邓二平 上传时间:2022/05/09 16:15
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功率循环测试被称为考核功率器件封装可靠性最重要的实验。本报告基于功率循环测试基本原理,从测试技术、测试方法和数据处理三个大方面对其存在的挑战进行深入分析。测试技术主要包括电气测量噪声、结温测量延时和数据采集点;测试方法主要包括结温测试方法、电流激励方法和SiC MOSFET的测试方法;数据处理部分则是探究了测试样本数量和对测试结果的修正。

讲师简介:

邓二平,博士,硕士生导师,华北电力大学教师,德国开姆尼茨工业大学博士后,华电(烟台)功率半导体技术研究院董事长。完成 Infineon 总部项目 1 项、中央高校基金 3 项,国家重点实验室自主课题 1 项,参与国家 02 重大专项、能源局项目和国家重点研发计划等项目的申请和研究工作,参与国家自然科学基金 3项(面上项目和智能电网联合基金),负责国家青年基金 1 项,智能电网联合基金课题 4 项。发表和录用高水平论文 60 余篇,其中SCI 检索论文 30 余篇, EI 检索论文 20篇,申请发明专利 30 余项,授权10 项。受国外出版社邀请,出版了 2 本英文专业书籍的独立章节,并为 2 个国际会议的技术委员会成员。电力电子器件顶级期刊 IEEE Industrial Electronics Magazine, IEEE Transactions on Power Electronics, Industrial Electronics, Microelectronics Reliability 等期刊审稿人。主要研究方向为高压大功率 IGBT 器件封装和可靠性研究、可靠性测试方法、测试技术、失效机理、寿命评估、模型建立和在线状态监测。

相关领域:

(食品/饮料/烟草)-(粮食及加工品)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-()-()

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