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仪器信息网 3i讲堂 蔡司全新双束FIB-SEM：高通量纳米加工与3D分析平台
1 18 投诉 分享 7498 2017-09-08
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蔡司全新双束FIB-SEM：高通量纳米加工与3D分析平台

所属会议:蔡司全新双束FIB-SEM：高通量纳米加工与3D分析平台
本次研讨会将会介绍蔡司最新发布的双束FIB-SEM系统，Crossbeam 550以及其在材料科学领域的应用。通过全新设计的Capella+离子镜筒，结合蔡司专利的Gemini电子镜筒，使其在高分辨成像，制样，高通量微纳加工以及3D重构等应用上具有极大的优势。结合Crossbeam 550 的FIB的加工能力和SEM的成像能力，讲座将会详细介绍其在材料，半导体，纳米材料，甚至生物等各个领域的应用。

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