仪器优选

椭偏仪

不知怎么选 为您精准选型

发求购
综合排序
最新
关注度
13 篇解决方案

光伏薄膜的椭圆偏振光谱测量

检测样品: 薄膜材料
检测项:
参考标准:
公司名称: HORIBA(中国)

Porous silicon composite material

检测样品: 无机非金属基复合材料
检测项:
参考标准:
公司名称: HORIBA(中国)

ZrO2 Thin Films on Glass Substrates

检测样品: 薄膜材料
检测项:
参考标准:
公司名称: HORIBA(中国)

并五苯有机薄膜晶体管中厚度检测方案(椭偏仪)

检测样品: 半导体材料
检测项: 厚度
参考标准:
公司名称: HORIBA(中国)

玻璃和预蒸镀基底中光学常数检测方案(椭偏仪)

检测样品: 玻璃
检测项: 光学常数
参考标准:
公司名称: HORIBA(中国)

ZnO薄膜中光学常数检测方案(椭偏仪)

检测样品: 薄膜材料
检测项: 光学常数
参考标准:
公司名称: HORIBA(中国)

TiO2薄膜和多层减反膜中厚度,光学常数检测方案(椭偏仪)

检测样品: 薄膜材料
检测项: 厚度,光学常数
参考标准:
公司名称: HORIBA(中国)

硫系玻璃中厚度,光学常数检测方案(椭偏仪)

检测样品: 玻璃
检测项: 厚度,光学常数
参考标准:
公司名称: HORIBA(中国)

13

  • 1
  • 2