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AIN中光学特性检测方案(椭偏仪)
检测样品： 其他
检测项： 光学特性
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III-V族半导体中厚度，光学常数检测方案(椭偏仪)
检测样品： 其他
检测项： 厚度，光学常数
参考标准：

光伏器件中厚度，光学常数检测方案(椭偏仪)
检测样品： 光电器件
检测项： 厚度，光学常数
参考标准：

OLED-有机发光二极管中厚度，光学常数，掺杂的影响检测方案(椭偏仪)
检测样品： 光电器件
检测项： 厚度，光学常数，掺杂的影响
参考标准：

有机半导体中光学常数检测方案(椭偏仪)
检测样品： 其他
检测项： 光学常数
参考标准：

封装应用中的势垒层中过程控制检测方案(椭偏仪)
检测样品： 其他
检测项： 过程控制
参考标准：

OLED封装器件中厚度，光学常数检测方案(椭偏仪)
检测样品： 光电器件
检测项： 厚度，光学常数
参考标准：
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