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四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于物理教育实验,对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
(使用环境5—40℃,相对湿度<80%,供电220V 50Hz,为实验室环境使用)
四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C适用范围
四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。
四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求
电阻测量范围:
1、电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、
电 阻:1×10-5~2×105Ω
电导率:5×10-6~1×108ms/cm
分辨率: 最小1μΩ
测量误差±5%
2、测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V
测量精度±(0.1%读数)
分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。
⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,
⑶误差:±0.2%读数±2字
4. 主机外形尺寸:330mm*350mm*110mm
5、显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ
7、标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。
四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品
产品货期: 7天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
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