薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A

薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。

当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数'。

采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。

对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A介电常数测试仪按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。

　　例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。

　　高频介质样品(选购件)：

　　在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。

　　该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

板状试样

考虑下面两点很重要：

a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。

b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：

……………………………（12）

式中：

△εr——相对电容率的偏差；

εr——相对电容率；

h——试样厚度； 

Ah——试样厚度的偏差。

若试样上加电极，且试样放在有固定距离S>h的两个电极之间，这时

 ……………………………（13）

式中：

△εr、εr、h同式（12）。

εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。

对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3〜10之间的材料，能给出高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是的。

薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A可以用于科研机关，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试；同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等。

　　薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A我们公司的原则是:“ 诚实守信，服务至上，互惠互利，共谋发展”我们将以与您携手发展、共创辉煌！竭诚欢迎新老用户光临！真诚希望与各界朋友精诚合作，共创美好未来！