Bruker VERTEX 80/80v 傅立叶变换红外光谱仪

bruker VERTEX 80/80v 傅立叶变换红外光谱仪

VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光谱仪采用主动准直的 UltraScan™ 干涉仪，能够为您带来极佳的光谱分辨率。高精度的线性气动轴承扫描仪以及优质光学元件为仪器的极限灵敏度和稳定性提供了保证。VERTEX 80v采用真空光学台，可消除大气中的水分吸收，从而实现极佳的灵敏度和稳定性，助力进行诸多高难度试验，如高分辨率、超快速扫描、步进扫描或紫外光谱范围测量。

得益于VERTEX 80/80v 的光学设计，系统不仅具备极佳的灵活性，还拥有卓越的性能。布鲁克光学独一无二的DigiTect™技术，有助于避免外部信号干扰，保证了仪器的佳信噪比，这使得用户可以轻松重复地自行更换检测器。两个可选的外接检测器端口可安装辐射热测量计和/或热电子检测器的液氦杜瓦。与外接的水冷高功率Hg-arc光源相结合，即便是使用室温DTGS检测器，也能达到近期重新发现的太赫兹光谱范围。

谱区扩展

VERTEX 80/80v可通过配备各种光学选件，来覆盖从远红外或太赫兹开始，经中红外和近红外、可见光到紫外光的光谱区域。其预准直光学元件以及主动准直的UltraScan™干涉仪，使切换和维护变得十分简单。

BMS-c： 布鲁克为VERTEX 80v真空光谱仪提供高精度分束器切换选件BMS-c。

您可以在真空条件下，通过远程控制自动更换多达4种不同类型的分束器。现在，您无需泄光谱仪真空打开光学台来手动切换分束器，就能测量从紫外/可见光到远红外/太赫兹的完整光谱范围。

光学分辨率

VERTEX 80 和 VERTEX 80v 标准配置提供优于 0.2cm-1的标点光谱分辨率，这足以进行大多数环境压力气相研究和室温样品测量。对于先进的低温工作，例如在晶体半导体材料或低压力下进行气相测量，提供优于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率。这是使用商用台式 FT-IR 光谱仪实现的高光谱分辨率。可见光谱范围内的高分辨率光谱显示分辨率（波数 + 除以光谱分辨率 ? +）更好的 300，000：1。

多功能

创新的光学设计使灵活性和拓展能力佳的研究级真空FTIR光谱仪成为可能。借助真空光学台，该系统在中红外、近红外和远红外区域具有极佳的灵敏度，而不必担心那些非常弱的光谱特征因空气中的水蒸气吸收而被掩盖。VERTEX 80v 真空光谱仪能为您带来卓越的成果，例如在低至 10-3 单层的纳米科学研究领域。不仅如此，它的灵活性几乎不受限制。光学台的右侧、前侧和左侧布有5个光束输出端口，右侧和后侧有两个光束输入端口。因此，它可以同时进行连接：例如，后侧输入端口的同步辐射光源、右侧输出口的 PMA50 偏振调制附件、右前侧端口的光纤耦合模块、左前侧的辐射热测量计探测器以及左侧输出端口的 HYPERION 系列 FTIR 显微镜。

VERTEX 80系列是要求苛刻的研究与开发应用的理想仪器。

全新附件： 布鲁克为VERTEX 80/80v FTIR 系列光谱仪提供了全新的新型宽带远红外/太赫兹分束器，拓展了分束器的选择范围。特别是在半导体和其它无机材料研究与开发应用中，由于全新的远红外固态分束器在单次测量中即可覆盖从900 cm-1 到5 cm-1左右的光谱范围，并且能够将中红外与远红外/太赫兹波谱范围连接起来，因此它还能带来更多价值。

VERTEX 80和VERTEX 80v光谱仪是VERTEX系列的高端研究级仪器。其独具创新的光学设计使得极为强大的台式吹扫和真空光谱仪成为可能。它们能够提供从紫外/可见光（50000 cm-1） 到远红外/太赫兹（5 cm-1）的广泛光谱范围、极高的光谱和时间分辨率以及卓越的灵活性。多功能VERTEX 80/80v 系统能够通过其顶尖的技术，为所有高端研究应用提供完美的解决方案。

研究与开发

• 用于幅度/相位调制光谱的连续和步进扫描技术

• 用于高时间分辨率实验的快速、交叉和步进扫描技术（步进扫描 / 快速扫描 / 交叉扫描时间分辨光谱）

• 对周期性有序微观材料（即超材料）进行表征

• 用于气体分析分辨率优于0.06 cm-1的高分辨率光谱

• 用于真空红外光束装置的系统化

• 酶催化实验的停流方法

• 外接超高真空测量腔室

• 用于电极表面和电解质原位研究的FTIR 光谱电化学

制药

• 测定分子的绝对构（VCD）

• 通过热分析对药物产品的稳定性和挥发物含量进行表征 (TGA-FTIR)

• 远红外谱区区分活性药物成分多晶型

聚合物与化学

• 远红外谱区识别聚合物复合材料中的无机填料

• 聚合物动态和流变学研究

• 测定挥发性化合物及表征热分解过程 (TGA-FTIR)

• 反应监测和反应控制 （中红外光纤探头）

• 识别无机矿物质和颜料

表面分析

• 薄膜和单分子层检测与表征

• 结合偏振调制进行表面分析 (PM-IRRAS)

材料科学

• 光学和高反射材料（光窗、反射镜）的表征

• 通过光声光谱学（PAS）研究深色物质和深度剖析

• 材料的发射行为表征

半导体

• 硅晶圆中氧和碳含量的测定

• 浅能级杂质的低温透射和光致发光（PL）测量进行质量控制

外接附件、光源和检测器

VERTEX 80/80v光谱仪配备了5个光束出口和两个光束入口，可连接外部激光器和同步辐射光源。此外，借助外部测量附件、光源和检测器，您可轻松升级光谱仪的光学系统。包括如下内容：

• 用于VCD和PM-IRRAS的PMA 50偏振调制附件

• PL II 光致发光模块

• RAM II FT-拉曼模块和RamanScope III FT-拉曼显微镜

• TGA-FT-IR 联用

• HYPERION 系列 FTIR 显微镜

• HYPERION 3000 FTIR 成像系统

• HTS-XT 高通量筛选eXTension

• IMAC 焦平面阵列宏观成像附件

• 外部样品室XSA（真空或吹扫）

• 外部真空密闭的超高真空腔室(UHV)

• 真空PL/PT/PR测量单元

• 低温液氦或无低温液体恒温器

• 带中红外或近红外光纤探头的光纤耦合单元（用于固体和液体）

• 大型积分球

• 自动进样器

• 外部远红外Hg灯光源

• 独一、无二的宽带中红外-远红外检测器

• 固态远红外/太赫兹分束器

• 外部发射适配器

• 外部高性能中红外光源

• 外部高性能可见光源

• 外部真空4位检测器腔（用于真空光学系统）

• 适用于远红外光谱范围检测的辐射热测量计

• 自动分束器切换单元（BMS-c）（真空光学系统）