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表面粗糙度测量功能
●粗糙度测量和轮廓测量一体机，极大的节约了安装空间
●高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的最高显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。
●X轴内置高精度玻璃光栅尺，直接读取X轴移动距离，在高精度精准定位下，完成间距参数的评价。●检出器测力有4mN和0.75mN可选。
轮廓测量功能
●Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。
●专为SV-C-4500系列增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的专用功能。 (1)装配双锥面测针，实现垂直方向(上下)连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。 (2)测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重和位置。
型号 | SV-C3200S4 | SV-C3200H4 | SV-C3200W4 | SV-C3200L4 | SV-C3200S81SV-C3200H8ISV-C3200W8 | SV-C3200L8 | |
SV-C4500S4 | SV-C4500H4 | SV-C4500W4 | SV-C4500L4 | SV-C4500S8 |SV-C4500H8|SV-C4500W8 | SV-C4500L8 | ||
•测量表面粗隨度时 | |||||||
量围 测范 | X轴（驱动部） | 100mm | 200mm | ||||
Z1轴（检出器） | 800um/80um/8um | ||||||
直线度 | (0.05+L/1000) pm L:驱动长度(mm) | (0.1+0.002L) pm L:驱动长度(mm) | |||||
分辨力IZ1轴（检出器） | 0.01pm(800pm), 0.001 pm(80pm), 0.0001 pm (8pm) | ||||||
测力 | 0.75mN （仪器货号末尾带"-1 "的型号） 4mN （仪器货号末尾带“2的型号） | ||||||
测针针尖形状 | 60°, 2pmR （仪器货号末尾带F"的型号） 90。, 5umR （仪器货号末尾带"2的型号） | ||||||
对应尺寸 | JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/IS01997/ ANSI/ VDA | ||||||
评价参数 | Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, PAq, Pmr(C), Pmr, P6c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, RAq, Rmr(C), Rmr, R(5c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, WAq, Wmr(C), Wmr, W<5c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1,A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, Aa, Aa, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW | ||||||
评价轮廓 | 原始轮廓、粗精度抡廓、滤波波纹轮廓、波纹轮廓、滚动圆波形原始轮廓、滚动圆波形轮廓、 包络残余线、DF轮廓（DIN4776/ISO13565-1）、表面粗糙度MOTIF （包络波纹轮廓在评价MOTIF时 显示） | ||||||
分析图 | 员荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、目相关、Walsh功率谱、Walsh自相关、顶峰分布、 倾斜角分布、参数分布僭损量、重叠在抡廓分析可以用于面积等的原始分析） | ||||||
曲线补偿 | 最小平方直线、R面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、双曲线补偿、二次曲线补偿.多顶式补偿 （自动或任意2~7次）、无补偿 | ||||||
滤波器 | 高斯濾波器,2CRPC75,2CRPC50, 2CR75,2CR50,鲁棒样条濾波器 | ||||||
•轮廓测量 | |||||||
量围 测范一 | X轴（驱动部） | 100mm | 200mm | ||||
Z1轴（检出器） | 60mm （测臂水平位置±30mm） | ||||||
宜线度 | 0.8um/100mm | 2pm/200mm | |||||
精度 | X轴（驱动部） | ±(0.8+0.01 Dpm L:驱动长度(mm) | ±(0.8+0.02L)|jm L =驱动长度(mm) | ||||
Z1轴（检出器） | SV-C3200 系列:±(1.4+|2H|/100)pm, SV-C4500 系列:±(0.8+|2H|/100)pm H:水平位置上的测量高度(mm) | ||||||
分辨力 | X轴（驱动部） | 0.05 pm | |||||
Z1轴（检出器） | SV-C3200系列:0.04剛,SV-C4500 系列 0.02剛 | ||||||
Z2轴（立柱） | 1 um | ||||||
测力 | SV-C3200系列:30mN （可调使用重量） SV-C4500系列;10,20,30,40, 50mN （根据软件转换） | ||||||
测头方向 | SV-C3200系列:垂直方向（向上/向下单独测量） SV-C4500系列:垂直方向（向上/向根据配重调整） | ||||||
,通用规格 | |||||||
Z2轴（立柱）移动量 | 300mm | 500mm 700mm | 300mm I 500mm 700mm | ||||
X轴倾斜角度 | ±45° | ||||||
驭动 速度 | X轴 | 0 - 80mm/s外加手动 | |||||
Z2轴（立柱） | 0 - 30mm/s外加手动 | ||||||
测量速度 | 0,02、0,05、0,1、0.2、0,5、1,0、2.0、5.0、10、20mm/s | ||||||
注：虽然天然石材测量桌的外观各有不同，但材料的稳定性是值得信赖的。
