三丰表面粗糙度和轮廓测量系统CS-3200S4 525系列
三丰表面粗糙度和轮廓测量系统CS-3200S4 525系列

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三丰

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CS-3200S4 525系列

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亚洲

  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

●配有宽范围且高分辨力的Z轴检出器。

●测量范围 Z1轴 (检出器): 5mm (分辨力: 0.0008μm *测量范围为0.05mm时适用) X轴: 100mm (分辨力: 0.05μm)

●检出器的延伸量:最大70mm(可固定在所需的位置)。

●使用官方FORMTRACEPAK软件提供了丰富多样的分析功能以实现优良的表面纹理评估。

图片2.png

货号

CS-3200S4

测量范围/ 分辨力

X

100mm/0.05um

Z1(检出器)

5mm/0.08um

0.5mm/0.008um

0.05mm/0.0008um

Z2轴(立柱)

300mm/1um

精度 (20°C)

X

±(0.8+0.01 L)um (L=测量长(mm))

Z1(检出器)

±(1.5+|2H|/100)um H=水平位置上的测量高度mm)

驭动部

直线度X轴)

正常使用下

0.2pm/100mm

当伸出到最大程度

0.4um/100mm

测量速度

表面粗糖度测量

0.02,0.05,0.1,0.2mm/s(4 )

抡廓测量

0.02,0.05,0.1,0.2,0.5,1.0,2.0mm/s (7 )

动速度

X轴(水平方向)

0-80mm/s外加手动

Z2轴(垂直方向)

0-20mm/s外加手动

/T移动

300mm (电动)

倾角范围

±45°

检出器

出方式

差动感应

测力

0.75mN

测针名称

标准测针(用于粗糙S/睛测量)

针尖角度:60°圆锥,针尖半径:2pm,金刚石针尖

圆锥型(用于抡廓测量)

针尖角度:30°圆锥,针尖半径:25m,蓝宝石针尖

测针上/T运作

适用冋在半空停顿)

*仪器本体的一部分采用天然石材,所以表面会有些花纹的情况。

*可根据需求订制Z2轴立柱规格,X200mm型等,详细请联络当地三丰事务所或经销商。


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