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产品介绍：
KA Imaing 自有专利的非晶硒（a-Se）X射线相机BrillianSeTM，专用于高亮度成像。基于高本征空间分辨率的非晶硒（a-Se）光电导器件，a-Se/CMOS混合探测器可将X射线直接转换为电子电荷。电信号再经由低噪声的主动式像素传感器（APS）CMOS读出。相较于基于闪烁体的间接探测方式，我们的直接探测技术无需将X射线先行转换为可见光，亦无需减薄转换层以减小光学散射等效应。BrillianSeTM既提供了基于8μm像素的高分辨率，又保证了能量高至100keV时的高探测量子效率（DQE）。这些特点使该探测器既可高效的用于高能低通量吸收成像，又可在低密度材料成像时通过同轴（无光栅）相称增强机制来提升灵敏度。
凯夫拉尔复合试样
我们使用探测器在几秒钟内快速获取了凯夫拉尔复合材料的相衬图像。 可以清楚看到单根纤维形态（左图）和纤维分层情况（右图）。
电子样品
技术参数
系统 | 描述 |
芯片类型 | Amorphous Selenium with CMOS APS |
像素规格 | 4096 x 4096 |
像素尺寸 | 8 μm x8 μm |
感光面积 | 32.8 mm x 32.8 mm |
读出噪声 | 200e- |
动态范围 | 75 dB |
帧率 | 2 Hz |
点扩散 （@60 kVp） (2 mm Al filtration) | 1.1 pixel |
系统 | 描述 |
读出模式 | Split rolling shutter (64 slices in parallel) |
X射线能量响应范围 | 13 keV - 110 keV |
探测量子效率 （@60 kVp） (2mm Al filtration) | 36% at 10 cycles/mm 22% at 45 cycles/mm 10% at 64 cycles/mm |
触发模式 | Hardware trigger in/out TTL |
冷却方式 | 风冷 |
数据接口 | Gigabit Ethernet |
供电 | 12 VDC, 2A |
尺寸 | 180 mm (W) x 180 mm (H) x 76 mm (D) |
典型应用
低密度材料相衬成像
同步辐射微纳CT
单光子灵敏 (>50 keV)
高能（>50KeV）相干衍射成像
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 不限人次交货时现场培训
免费仪器保养: 质保期内免费保养
保内维修承诺: 质量保证期内提供保修（人为破坏因素、遇不可抗力或使用不当除外）
报修承诺: 24小时内做出响应，提出解决方案，如有必要，48小时内上门
三维扫描透射X射线显微镜 科研级 桌面式X射线相衬微米CT-高能/高灵敏/高分辨
型号：inCiTe CT 面议
Advacam 光子计数X射线探测器 AdvaPIX TPX3
型号：AdvaPIX TPX3 面议
实验室级HPC(Timepix)探测器
型号：ADVAPIX TPX 10万 - 15万
科研级相衬微米CT inCiTe™-三维X射线显微镜
型号：inCiTe™ 面议KA Imaing 自有专利的非晶硒（a-Se）X射线相机BrillianSeTM，专用于高亮度成像。基于高本征空间分辨率的非晶硒（a-Se）光电导器件，a-Se/CMOS混合探测器可将X射线直接转换为电子电荷。电信号再经由低噪声的主动式像素传感器（APS）CMOS读出。
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KA Imaging BrillianSe™多少钱一台?
X射线探测装置 BrillianSe™可以检测什么？
X射线探测装置 BrillianSe™使用的注意事项？
KA Imaging BrillianSe™的说明书有吗？
KA ImagingX射线探测装置 BrillianSe™的操作规程有吗？
KA ImagingX射线探测装置 BrillianSe™报价含票含运吗？
KA Imaging BrillianSe™有现货吗？
