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1、产品特点：
我们一直持续致力于不断地探索研究、突破技术壁垒，以获得更为高效的测试过程及测试装置，使测试性能趋于完美。目前我们在同步辐射仪器及科学研究领域所取得的巨大成就已充分证明了这一点。
新型的EIGER X 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步辐射应用提供极致的探测性能。具有连续读数能力以及千赫兹帧速率的成像能力为时间分辨类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得卓越的点扩散函数。在理想情况下每单位面积的最高计数速率可以与持续增加的波束线亮度相匹配。
2、核心优势：
- 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力
- 千赫帧速率占空比> 99%
- 3μs时间下的连续采集模式
- 5μm像素尺寸的高空间分辨率
- 优秀的点扩散函数
- 计数速率高达每平方毫米每秒5亿次
- 无读出噪声和暗电流
- 极其紧凑的外壳
3、应用领域：
-X射线光子相关光谱(XPCS)
- Ptychography(叠层衍射)成像技术
- 时间分辨实验
- 大分子晶体学(MX)
- 单晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)
- X射线成像
4、技术参数：
EIGER X | 500K | 1M | 4M | 9M | 16M |
探测器模块数量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 | 3 x 6 | 4 x 8 |
有效面积：宽x高 [mm2] | 77.2 x 38.6 | 77.2 X 79.9 | 155.2 x 162.5 | 233.2 x 245.2 | 311.2 x 327.8 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||
总像素数量 | 1030x514= 529,420 | 1030x1065= 1,096,950 | 2070 x 2167= 4,485,690 | 3110 x 3269= 10,166,590 | 4150X4371= 18,139,650 |
间隙宽度, 水平/垂直（像素） | -/- | -/37 | 10 / 37 | 10 / 37 | 10 / 37 |
非灵敏区 [ % ] | 0 | 3.5 | 5.6 | 6.3 | 6.6 |
缺陷像素 | <0.03% | ||||
最大帧频* [Hz] | 3000,4500**,9000** | 3000 | 750 | 238 | 133 |
计数器深度 [ bit ] | 12, 8, 4 | 12 | 12 | 12 | 12 |
读出时间 | 连续读数，3μs死区时间，工作循环>99%*** | ||||
点扩散函数 | 1 pixel | ||||
探测器厚度 [μm] | 450 | ||||
阈值能量 [keV] | 2.7-18 | ||||
最大计数率 [phts/s/mm2] | 5•108 | ||||
动态范围 [bit] | 16 或32 | ||||
数据格式 | HDF5 / NeXus | ||||
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 240 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
重量 [kg] | 3.3 | 3.9 | 15 | 41 | 55 |
功耗 [w] | 70 | 75 | 300 | 750 | 1200 |
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 中国科学院上海高等研究院 | 2020-06-25 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 无
免费培训: 有
免费仪器保养: 视情况而定
保内维修承诺: 免费维修更换零件
报修承诺: 24小时之内响应
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