产品简介
平场掠入射光谱仪
最佳光谱分辨率
波长范围为1 ~ 100nm
高效率无狭缝模式
在易用型平场校正光谱仪市场中，highLIGHT具有较高的光谱分辨率。单次测量覆盖宽光谱范围的同时，可获得优于等于0.006nm的光谱分辨率。同时，客户可以选择是否使用入射狭缝。
集成了狭缝架、滤波器插入装置、以及电动光栅定位设备的模块化设计特点，使其能够匹配不同的实验几何和构型。
灵活完善的探测器配置选项
nXUV CCD——高分辨高动态范围应用
nMCP/CMOS——宽光谱范围、门控或像增强探测需求
无狭缝设计
HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。 因此，不需要狭窄的入口狭缝，并且可以最大程度地收集入射光束。 与传统的光谱仪相比，到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。
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测量结果
 | 利用highLIGHT XUV获得的倍频掺镱光纤激光系统(334kHz, 90uJ，<300fs)的第9次谐波和第11次谐波光谱。谐波带宽为约20 meV（半高全宽），对应的相对能量带宽为ΔE/E = 7.5E-4。 V. Hilbert et al, A compact, turnkey, narrow-bandwidth, tunable, |
 | 用highLIGHT SXR+在2.88nm（430eV，对应1s2-1s2p跃迁）处获得的氮谱线的发射谱测量结果。谱线的半高全宽是对应1.7个CCD像元尺寸（13μm像元），对应分辨能力为1890。该探测器的极限分辨能力可达3290。 data courtesy of Dr. K. Mann, Laser-Laboratorium Göttingen |
规格参数
Topology类型 | 像差校正平场光谱仪 | ||
波长范围 | 1-100nm | ||
光源距离 | 可根据用户实际光路灵活调整 | ||
探测器类型 | CCD or MCP/CMOS | ||
真空兼容度 | <10-6mbar (UHV超高真空版可定制) | ||
无狭缝技术 | 是 | ||
入射狭缝 | 可选 | ||
光栅定位 | 闭环电控台 | ||
滤光片插入装置 | 含 | ||
控制接口 | USB 或 Ethernet | ||
软件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK | ||
定制化 | 可根据需求定制 | ||
可选项 | 非磁性，旋转几何等 | ||
SXR+ | SXR | XUV | |
波长范围 | 1-5nm | 1-20nm | 5-100nm |
色散能力 | 0.06nm/mm | 0.1-0.2nm/mm | 0.2-0.7nm/mm |
分辨率 | <0.001nm at 3nm | <0.005nm at 10nm | <0.02nm at 60nm |
