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Microworks的TALINT EDU系统是一款结构紧凑、物美价廉的TALbot干涉仪套件。它是X射线Talbot-Lau干涉仪的巧妙简化形式,包括了建立和微调干涉仪所有必要的硬件,通过相位步进步骤来获得三种成像模式应用:吸收成像、相衬成像和暗场成像。
使用者可以在不到半小时的时间内快速组装。对于这个简化的系统来说,图像采集是手动的,在相位步进过程中获得的图像非常适合于图像分析科学家。
- TALINT EDU包装一览 -
Talint-EDU 套件主要参数
套件规格
套件尺寸 | 60cm x15cm x20cm |
安装 | EDU套件底板为M6螺孔,孔间距25mm的面包板,可安装于用户的光学平台或任何适合 25mm 间距的装置 |
G0-G1和G1-G2距离 | 29cm,通过精密定位销固定;对称安装 |
方案1:所有3个光栅角灵敏度的设计能量周期(光栅周期超过光栅间距) | 40 keV 6.0 μm 21 μrad |
方案2:所有3个光栅角灵敏度的设计能量周期 | 21 keV 4.8 μm 16 μrad |
典型值>15% |
光栅组选项 (含3块光栅)
标准规格参数 | 设计能量-40 keV | 设计能量-21 keV |
光栅周期(3块) | 6.00μm | 4.80μm |
G0 G2 吸收材料及高度 | 金>150μm | 金>50μm |
G0 G2 光栅占空比 | 0.55(容差范围0.5-0.6) | 0.55(容差范围0.5-0.6) |
G0 G2 光栅衬底 | 石墨 400μm | 石墨 400μm |
G1 相移材料及高度 | Gold 7.7 μm (40 keV) | Nickel 7.4 μm (21 keV) |
G1 光栅占空比 | 0.5(容差范围0.45-0.55) | 0.5(容差范围0.45-0.55) |
G1 光栅基底 | 硅 200μm | 硅 200μm |
视场范围(样品) | 35mm | 35mm |
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应用示例
1. CFRP拉伸试验试棒
吸收像
相位像
暗场像
- 相衬成像增强了空腔折射信号的成像衬度
- 暗场成像增强了由纤维束引起的散射信号的成像衬度
2. 裂纹损伤
吸收像 暗场像
- 暗场成像增强了发丝状裂纹散射信号的成像衬度
3. 3D打印钛波纹管
照片
吸收像
暗场像
- 暗场成像增强了残留粉末散射信号的成像衬度
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 不限人次交货时现场培训
免费仪器保养: 质保期内免费保养
保内维修承诺: 质量保证期内提供保修(人为破坏因素、遇不可抗力或使用不当除外)
报修承诺: 24小时内做出响应,提出解决方案,如有必要,48小时内上门
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