产地类别: 进口
仪器种类: 斜插式
能量分辨率: 129eV@100,000cps
峰背比: 20,000:1
最大计数率: 1,000,000cps
元素检测范围: B-Cf
探测器面积: 有效晶体面积15m㎡或30m㎡
窗口类型: SATW
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Xplore是SEM常规分析所用新一代EDS探测器。探测器有效晶体面积为15/30mm2 ,应用范围广泛。
Xplore使用了Ultim Max探测器中诸多新技术,它提供了实时EDS分析所需的快速数据采集,同时保证了常规分析所需的自动可靠的结果。
速度
Extreme电路与X1脉冲处理器的结合使Xplore能够以1,000,000 cps的计数率进行面分布分析,并以100,000 cps的速度进行准确定量分析
灵敏度
新的紧凑型设计使得探测器体积小巧且便于现场维修,更大限度地延长工作时间并减少宕机时间
Extreme电路
Xplore结合了先进的Extreme电路,提供尽可能低的噪音信号检测和处理。确保在高计数率下获得优异的能量分辨率和谱图质量,保证在100,000 cps下获得129eV Mn Kα分辨率
保修期: 详询工程师
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 详询工程师
免费仪器保养: 详询工程师
保内维修承诺: 详询工程师
报修承诺: 详询工程师
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