TEAM™ Trident (EDS-EBSD-WDS)

• 能量色散谱仪 (EDS)

• 电子背散射衍射 (EBSD)

• 波长色散谱仪 (WDS)

通过在单个平台上集成 EDS、EBSD 和 WDS 分析技术，TEAM™ Trident 分析系统可提供完整的材料表征解决方案。通过全面的数据收集和不同技术之间的共享，可确保实现无缝集成。每项技术均可单独使用，也可通过整合数据达到以往无法实现的结果。

能量色散谱仪 (EDS)

EDS 分析提供了从简单定性分析到高级定量计算所需的全套工具。

• 无论操作经验水平如何，智能功能都可确保一致的数据采集、分析和报告

• EXpert ID 采用分析智能分离重叠峰，识别微小峰

电子背散射衍射 (EBSD)

EBSD 分析整合了 TEAM™ 软件套件的易用性与取向成像显微镜 (OIM) 的分析能力，从而为所有用户提供最先进的晶体结构表征。

• 置信度因子  (CI)：标定准确度的专利验证

• 专利型 ChI-Scan™ 可实现卓越的多相分析，提升标定和相鉴定准确性

波长色散谱仪 (WDS)

WDS 扫描可补充 EDS 能谱采集，生成准确的定性和定量分析结果

• 自动样品定位，易于使用，获取最大信号强度

• 高能量数据采集有助于解决最棘手的峰位重叠问题

探测器和相机

TEAM™ Trident 结合了 Octane Elite EDS 硅漂移探测器 (SDD) 和为满足关键应用需求而设计的传感器。行业领先的电子器件保证在整个计数率范围内均具有出色的效率和分辨率。

对于 EBSD，可供选择的相机有Velocity™ Super、 Orion™、 Hikari Super和DigiView。Velocity™ Super采用CMOS传感器，能对现实世界中的材料提供具有最高标定性能的高速EBSD面扫描。Orion™ EBSD相机系列将低噪音表现和快速采集相结合以保证最优采集和数据质量。Hikari super使速度和灵敏度完美融合，而DigiView是高分辨率分析的理想选择。

对于WDS，过渡X射线波谱仪（TEXS）可用作WDS分析。

TEAM™ Trident可为您解决最困难的材料表征问题。通过快速轻松地提供晶体结构和元素成分结果，TEAM™ Trident让用户能够专注于材料分析工作，而非数据采集。