膜厚仪/透明膜测厚仪/光刻胶测厚仪
膜厚仪/透明膜测厚仪/光刻胶测厚仪

¥12万

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HS2100

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中国大陆

核心参数

设备咨询  吴先生



反射膜厚测量仪
型号:-HS-100;波长范围:380 - 1000 nm;测量范围:10nm-100um
型号:-HS-200;波长范围:250 - 1000 nm;测量范围:2nm-100um
型号:-HS-300;波长范围:700 - 1200 nm;测量范围25nm-1mm
光斑尺寸:0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量反射率,膜厚,颜色,折射率

透射测量仪
型号:A3-ST-100:波长范围380 - 780 nm
型号:A3-ST-200:波长范围250 - 1000 nm
光斑尺寸:0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量透射率,膜厚,颜色,折射率

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 2人到技术中心培训

免费仪器保养: 3月1次

保内维修承诺: 免费维修更换零件

报修承诺: 24小时到达现场并进行维修

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