晶格SZT-C快速恒压四探针测试仪测试台
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¥1000

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SZT-C

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中国大陆

  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

SZT-C型快速恒压四探针测试台

产品介绍

测薄膜导电性

                                                                  1.1 SZT-C型测试台结构示意图 

       SZT-C型快速恒压四探针测试台,主要有载物台(180mmX180mm净载物面结)、双轨垂直导向单元、测试压力调节单元、探头快速升降扳手(顶部戴红套部分)、探头连接板等单元!


二、 使用方法

2.1放置样品:将测试台上部操作扳手向上向后、向上升起测试台探头,如图1.1,将样品放在探头下方测试台板上,然后将测试台上部操作扳手向前向下,压下探头。如图1.2!

2.2压力调整:在探头压下的状态下,可根据样品厚度及压力要求,调节测试台导轨支架中部螺杆上的螺母(先松开锁紧螺帽),观察探头探针压下程度,调节测试压力!(弹簧压缩量0~20mm,探针缩进量0~4mm,对应探头压力0~2.0K公斤),调好后,锁紧锁紧螺帽。

如图 2.1和2.2.

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图2.1 测试压力调整螺母示意图       

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