产地类别： 进口
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纳米级透射电镜拉伸压缩样品杆 杆
搭配机台 Tensil、3D/4D、SEM
产品特点
将样品放入拉伸盒中，我们依据盒子变形结构作为拉伸测试数据。
它是特制能够以 1 纳米级长原位拉伸试验的支架，能根据用户的要求提供特制拉伸盒。
原位拉伸试验---納米级高分辨率图像
拉伸+断层扫描系统= 4D数据
位拉伸试验在
安全易操作样品操作台
一般来说，样品安装至样品杆是一项非常精细的操作。经过Mel-Build公司研发和使用研究人员的反馈持续进行改良，目前该支架能提供样品安装安全的操作环境。
A. 桥式样品操作台设计
考虑到双眼操作方便性，特别设计使用桥式方便放置样品至透射电镜样品杆来做拉伸压缩试验。
B. 解除锁定按钮
为了装置样品时的稳定性及安全性，每个样品操作台皆安装此功能，当装置样品完成后按下解除锁定按钮即可方便取出样品杆。
C. 固定小插孔
样品杆前端轻压至孔座，在更换样品时可免于造成意外伤害。
D. 掌托设计
能够更好的使手掌增加支撑与稳定性，更方便安全移动样品。
产品参数
| Tilt angle(α,X) | FEI Model ±65° |
| JEOL Model ±60°(HR) | |
| Minimum Tensile step | 1 nm or less (calc.value 0.6 nm) |
| Minimum continuous feed ability | 3 nm/s Max. |
| Continuous feed ability | 10 μm/s or less Max. |
| Distance | >200 μm(Depend On cartridge Type) |
| Control | Remote PC (32/64bit) |
| Accessory | Safety Operation Stand and etc. |
由日本Mel-build特别设计，专门为需要双倾、冷冻及杜绝真空传输之TEM样品杆，提高便利性与观测准确性，资料附件英文详细规格。
由日本公司研发特制TEM样品杆，在原位拉伸试验中具备纳米级高分辨率，也可搭配断层扫描系统产生4D数据，搭配各家SEM样品座轻松移动样品，资料附件为英文详细规格。
多功能TEM样品杆由日本Mel-build设计，专门为FIB/TEM/APT等等实验室仪器制定通用样品台，搭配不同机型前端样品座，即可轻松切换至不同仪器上观测使用，提高便利性与安全性，资料附件为英文详细规格。
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