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产品介绍:
NX9000可以自动重复进行FIB制备截面和扫描电镜观察,能够获得一系列的截面图像,从而实现特定显微切片的三维结构分析。NX9000中的SEM镜筒和FIB镜筒呈正交结构,而不是常见的对角构造。这种形式是进行三维结构分析最理想的结构,能够稳定收集准确反映样品的真实结构的图像。
主要特点:
1. 高分辨SEM冷场发射电子枪1.6nm@15kV,高衬度成像
2. SEM和FIB镜筒垂直,能进行更真实的三维结构分析
3. 可实现观察加工过程
4. 全自动TEM样品制备
5. 高精度加工
6. 可选Ar和Xe离子源
应用领域:
1. 新材料
2. 纳米材料
3. 电子元器件研发
4. 生物结构研究
技术参数:
Quantum Design-FusionScope扫描电镜——SEM+AFM二合一显微镜
日本电子 JEOL 钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-IT210
Apreo 2超高分辨场发射扫描电镜
高分辨热场发射扫描电镜 SU3900/SU3800 SE Series
日本电子 JSM-IT810场发射扫描电子显微镜
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