Alba-STED FLIM荧光/磷光寿命成像
 Alba-STED FLIM荧光/磷光寿命成像

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Alba v5 STED

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美洲

核心参数

Alba-STED单分子级细胞定量分析系统

Alba v5 STED FFS/FLIM是一款应用于实验室内定量生物学和材料科学研究,具有单分子级检测精度激光扫描显微成像系统。

Alba-STED FFS/FLIM测量:

·         1p 或者 2p 共焦成像

·         FLIM荧光寿命成像(FastFLIM or TCSPC

·         PLIM磷光寿命成像

·         偏振光成像

·         荧光光谱波动分析 FCSFCCSPCSFLCS

·         RICSN&BScanning FCS

·         Burst Analysis

·         FRET高效检测

·         3D粒子轨迹跟踪

·         20nm分辨率纳米图像重构

Alba-STED for FFS/FLIM主要特点:

·         具有独立接口进行单光子和双光子激发

·         最大4通道检测

·         可扩展第五通道检测器或CCD相机

·         使用计算机对各检测通道进行单独控制,能够进行高精度FFS成像

·         快速扫描成像

·         具有偏振模块

·         全自动化控制滤光片切换盘、开关、通光光圈、激光强度和检测通道

·         具有友善的软件操作界面,通过VistaVision软件系统可以得到FLIM/ FRETRICSFFS FCSPCHscanning FCSN&B)图像。

激发模式:

·         单光子激发模式(激光二极管和超连续激光)

·         双光子激发模式(Ti-蓝宝石激光,光纤激光)

显微镜系统:

Alba v5 STED FFS/FLIM 系统能够耦合到绝大多数荧光显微镜和正置、倒置显微镜上。

探测器:

·         快速GaAs 探测器

·         混合光电倍增管探测器

·         雪崩光电二极管

Alba-STED for FFS/FLIM配置

仪器特点

  • 每个通道具有独立接口

  • 电脑选择控制可变光圈孔径大小

  • 电脑选择控制成像平面针孔位置

  • 单光子和双光子激发模式

  • 最大4通道数据获取

  • 数码相机辅助接口

软件系统

光源

  • 单光子激光发射器,电脑控制激光开关,光束大小和激光强度

  • 多光子激光发射器,电脑控制激光开关,光束大小和激光强度

激光发射器

·           346型激光二极管, 通过光纤传到到显微镜中

显微镜

  • 正置或倒置显微镜

  • LeicaOlympus Zeiss多种型号显微镜

物镜

  • 正常样品—20X40X60X 放大倍数,1.5-8.1工作距离

  • 油侵样品—1.4        NA 60X (标准),其他放大倍数

  • 水溶液样品—1.2        NA 60X (标准),盖玻片校正 0.15-0.18盖玻片),其他放大倍数

双色向滤光镜

  • 单光子激发: 1-2-3-帯通滤波片

  • 双光子激发

偏振

·           立方分光镜,波长范围:450-1100 nm,消减比率:10,0001 +/- 3

载物台

  • 大范围移动载物台(100x100x10        mm

  • XYZ电动载物台

  • 微距离移动载物台

  • XYZ 压控载物台,100 x100 x50 μm5 nm移动分辨率

样品夹持器

  • 微孔板

  • 培养皿

  • 载玻片

光检测器

  • APDs

  • GaAs PMT (Model H7422P)

  • Hybrid PMTs (Model R10467U)

操作系统

  • Windows 7, 64-bit

电源

  • 通用电源:        110-240 V, 50/60 Hz, 400 VAC

尺寸

  • 885 mm (L) x 600 mm (W) x 330 mm (H)

重量

  • 40 kg

 

Alba-STED for FFS/FLIM

FFS 测量

·           荧光相关光谱 (单相关和交叉相关)

·           光子计数统计 PCH

·           FFS 测试(XYZ平台成像)

·           FLCS,荧光寿命相关光谱

·           扫描 FCS

·           数值 & 亮度 N&B

·           光栅成像相关光谱 RICS

单点模式测试

·           强度

·           偏振

·           动力学

·           寿命时间

成像模式测试(Single   plan and z-stack)

·           强度

·           偏振

·           比率测量

·           FLIM

FLIM成像(数字频域) (single   plane and z-stack)

·           获取数字频域(DFD),同时获取FLIM图像和稳态图像

FLIM成像(时域)(single   plane and z-stack)

·           时间相关单光子计数(TCSPC

超高分辨率

·           粒子追踪

·           纳米成像

单分子测试

  • Burst Analysis

  • FRET and Correlation Methods

  • PIE-FRET Methods

Alba-STED for FFS/FLIM测试举例

measurement_example_05.jpg

使用FastFLIM技术对60nm荧光颗粒进行成像(共焦(绿色)vs. pSTED(红色))measurement_example_06.jpg

使用FastFLIM技术对SiR标记的神经肌动蛋白细胞进行成像(共焦(左边)vs. pSTED(右边)).

增加pSTED分辨能力,使用矢量画图

measurement_example_07.jpg

60nm荧光颗粒共焦成像(左);pSTED 成像(中间);基于二进制处理的增强型pSTED 图像(右)

使用640nm激发波长,通过pSTED FastFLIM方法能够将Atto 647N  Atto 655染料进行区分。通过叠合2种染料的pSTED 图像,首次得到Atto 647NAtto 655染料区分的相量图,使用黄色表示Atto 647N染料,使用紫色表示Atto 655染料。

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