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以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度，加上F10-HC软件特有的先进模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。
现在，具有新样板模式功能的F10-HC将更容易使用，这个功能允许用户汇入样品的影像(请参考下页)，并直接在影像上定义测量位置。系统会自动通知使用者本次测量结果是否有效，并将测量的结果显示在汇入的影像上让用户分析。
F10-HC现在能够执行自动化基准矫正以及设置自己的积分时间这个创新的方法不需要频繁的执行基准矫正就可以让使用者立即的执行样本的测量。
背面反射干扰对厚度测量而言是一个光学技术的挑战，具有F10-HC系统的独特接触式探头能将背面反射干扰的影响最小化，使用者能以较高的精准度来测量涂层厚度。
桌面式薄膜厚度测量专家
24小时电话，E-mail和在线支持
所有系统皆使用直观的标准分析软件
嵌入式在线诊断方式
免费离线分析软件
精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 无
免费培训: 首次培训免费
免费仪器保养: 收费服务
保内维修承诺: 首次免费上门安装
报修承诺: 24小时反馈
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