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产品概述
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
测量范围: 100 nm -200um
波长范围: 900 nm -2500 nm
适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
测量指标：薄膜厚度，光学常数
界面友好强大: 一键式测量和分析。
实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 免费培训
免费仪器保养: 仪器保养
保内维修承诺: 维修
报修承诺: 维修
Semiconsoft在线测厚仪MProbe NIR的工作原理介绍
在线测厚仪MProbe NIR的使用方法?
SemiconsoftMProbe NIR多少钱一台?
在线测厚仪MProbe NIR可以检测什么？
在线测厚仪MProbe NIR使用的注意事项？
SemiconsoftMProbe NIR的说明书有吗？
Semiconsoft在线测厚仪MProbe NIR的操作规程有吗？
Semiconsoft在线测厚仪MProbe NIR报价含票含运吗？
SemiconsoftMProbe NIR有现货吗？
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