基于微处理器的仪器，用于测量进行材料试验中的金属裂纹深度。使用脉冲直流电势降法（DCPD），它是由ASTM647涵盖已建立的技术。
电位增长技术是不污染的，可在大多数环境下使用，尤其是特殊环境试验室中。目视方法一般不实用，通常，裂纹和试验样本会被试验室或具有需要很长面部长度的显微镜遮蔽。该技术包括传输试验中通过金属的恒定电流和测量跨接在样品产生的所得电压降。增长故障的存在将改变这个电压，并且通过适当的校准，可以得到故障深度的测量。
产品特点
可反向脉冲DCPD。
先进的过滤和采样，触发包括峰值，低谷，以及负载周期波形输入的中点。
可变直流偏移用于去除站立电压。
双通道作为标准，参考和样本。
