Park NX12原子力显微镜

创新点

 上市时间：2017年6月
Park NX12适用于对膜，有机元件，电子，以及生物病理样品等材料的高级研究，Park NX12通过为现有的SECM技术提供足够的分辨率来解决清洁的可再生资源应用的材料表征问题，并实现高分辨率界面传递和表面化学。它还可处理SECM表征中用的吸液管探针和类似的透明材料如纳米孔膜（燃料电池）和生物膜(传感器)。 Park NX12是很多工业研究应用的理想选择，其中包括电子和分析化学，电池和ESS(储能系统)，纳米孔结构，水净化处理，水凝胶研究，荧光标记，电生理，神经化学，仿生学，组织工程和生物物理。 Park NX12在空气和液体中都可方便使用，提供SPM技术（SICM, SECM, SECCM）的研究平台， 具有广泛的光学访问扫描探针，同时也具有Park原子力显微镜生产线的标准功能，包括只需三次点击鼠标就全智能扫描的软件SmartScan™。

Park NX12是多功能原子力显微镜平台，满足纳米级测量的需求

原子力显微镜（AFM)有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。

纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描离子电导显微镜（SICM).

 倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化

- 配备倒置光学显微镜

  顶置显微镜与倒置显微镜相结合的双光路样品台，Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。为使用者提供机会研究不同透明度及不同硬度的样品。

- 电化学测试的绝佳平台 

电池，燃料电池，传感器和腐蚀等电化学研究均处于快速增长阶段，然而许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计，为快速操作提供便利，从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括： 

多功能易用电化学池

惰性气体和湿度的环境控制选项

双恒电位仪的兼容性

研究人员可利用Park NX12平台实现各种电化学应用：

●      扫描电化学显微镜(SECM)

●      扫描电化学池显微镜(SECCM)

●      电化学原子力显微镜（EC-AFM）和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)

综合性的力谱方法

Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整解决方案，使其成为广泛应用中的理想选择。

综合性的力谱方法

Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整解决方案，使其成为广泛应用中的理想选择。

Park NX12

世界上最精准和最容易操作的AFM

- 简单的探针和样品更换

独有的设计能让您轻易地用手从侧面更换新的探针和样品。借助安装悬臂式探针夹头中预先对齐的悬臂，无需再进行繁杂的激光校准工作。

选项

范围广泛的环境控制选项包括了多功能电化学池，控温台和湿度控制的手套箱.

  电化学池

 电化学池

 通用液池的电化学工具包

 电化学选项

 恒电位仪

 双恒电位仪

环境控制选项

 手套箱

 活细胞箱

控温台

 控温台(-25 ~180 oC)

 250 oC 加热台

 600 oC 加热台

磁场发生器

 平行于样品表面的外加磁场

 可调磁场

 范围：~300 gauss

Z扫描头

 15 μm AFM  Z 扫描头

 30 μm AFM  Z 扫描头

 15 μm SICM 模块 Z扫描头

 30 μm SICM 模块 Z扫描头

液态成像选项

 液态探针柄

 开放式液池

 通用液池

隔音罩

 独立型 AE 204

 独立型 AE 301

夹式芯片载体

 可用于未装载悬臂

 可用于导电式 AFM和EFM的针尖偏压功能

 针尖偏压范围：-10 V ~ 10 V

 高级模式的初学者工具包

 易使用的高级模式

 包括特定探针和样品

Park NX12

规格

扫描器

Z扫描器

AFM 扫描头

柔性引导高推动力扫描器

扫描范围：15μm(可选 30μm)

SICM 扫描头

多层压电叠层驱动器驱动的柔性引导结构

扫描范围：15μm(可选 30μm)

XY 扫描器

闭环控制的柔性引导XY扫描器

Scan range: 100*100μm

扫描范围：100μm ×100μm

驱动台

XY 驱动台行程范围: 50 mm x 50 mm

Z 驱动台行程范围: 25 mm

聚焦驱动台行程范围: 15 mm

影像

样品表面和悬臂的直观同轴影像

视野: 840 μm × 630 μm (10倍物镜)

摄像头: 5 M Pixel (默认), 1M Pixel (可选)

物镜

10倍 (NA. 0.23) 超长工作距离镜头

20倍 (NA. 0.35) 高分辨率，长工作距离镜头

电子

信号处理

ADC: 18 通道

24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 扫描器位置传感器

DAC: 17 通道

20-bit DAC的 X, Y 和 Z 扫描器定位

集成功能

3通道数字锁相放大器

弹性系数校准(热方法)

数据Q 控制

选项/模式

标准成像

 真正的非接触模式

  接触模式

 侧向摩擦力显微术 （LFM)

 相位成像模式

 轻敲模式

 Pinpoint™模式：Pinpoint成像

 化学性能

 扫描电化学池显微镜（SECCM）

 S扫描电化学显微镜（SECM）

 电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜(EC-STM)

 功能化探针的化学力显微镜

介电／压电性能

 静电力显微镜

 动态接触式静电力显微镜(EFM-DC)

 压电力显微镜 (PFM)

 高电压PFM

力测量

 力－距离（F-D)光谱

  力谱成像  

 磁性能

  磁力显微镜 （MFM)

 可调外加磁场MFM

 热性能

  扫描热显微镜(SThM)

 电性能

 导电AFM (CP-AFM)

 Pinpoint™ 导电AFM

 I-V谱线

 扫描开尔文探针显微镜 (SKPM/KPM)

 高电压SKPM

 QuickStep™扫描电容显微镜(SCM)

 扫描电阻显微镜(SSRM)

 扫描隧道显微镜(STM)

 扫描隧道光谱(STS)

光电流测绘(PCM)  

 SICM Current-distance(I/d) Spectroscopy

机械性能

 Pinpoint™纳米力学模式

 力调制显微镜(FMM)

 纳米压痕

 纳米刻蚀

 高电压纳米刻蚀

 纳米操纵

软件

Park SmartScan™

 AFM系统控制和数据采集的专用软件

 自动模式的快速设置和简易成像

 手动模式的高级使用和更精密的扫描控制

XEI

 AFM数据分析软件

 独立设计——-可独立安装和分析数据

 能够生成采集数据的3D绘制

配件

控温台

手套箱

磁场发生器

液态选项

AE隔音罩