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为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另外、Q45加上了环境扫描（ESEM）模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。
Q45材料科学应用
为应对研究宽范围的材料及结构及成分表征的需求，FEI Q45 SEM为应对当今的宽范围研究需求的挑战提供了灵活性和多功能。观察任何样品和获得所有数据：表面和成分像可以和附件结合起来确定材料的性能和元素组成优点：
1）在所有的操作模式下可以用SE或BSE图像表征导电或不导电样品。
2）样品制备工作最少化；低真空和环境扫描模式实现了无荷电成像及不导电样品和/或含水样品的分析
3）增加了除导电样品之外的非导电样品的分析能力，利用多级穿过透镜的抽气系统在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。
4）利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。
5）采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。
6）简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作
日本电子 JEOL 钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-IT210
Apreo 2超高分辨场发射扫描电镜
国仪量子场发射扫描电镜SEM5000Pro
TESCAN MIRA 场发射扫描电镜
屹东光学(Yidon Technologies)场发射扫描电子显微镜YF-1801
JEOL触摸屏控制热场发射扫描电子镜
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钢研纳克钨灯丝扫描电镜SEM SE-800
纳克微束(北京)有限公司
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