新品发布 | TESCAN又出重拳，更厉害的 AMBER X 2 PFIB 来了！

TESCAN 推出 AMBER X 2：下一代等离子体 FIB-SEM

AMBER X 2 带来等离子体 FIB 技术革新，进一步缩小了 Ga FIB 和等离子体 FIB 之间的性能差距。

捷克共和国布尔诺，2024年7月29日——TESCAN 与 Orsay Physics 合作，宣布推出 AMBER X 2，这是一款开创性的等离子体 FIB-SEM 系统，旨在为材料科学研究设定新的标准。这项尖端技术为全面样本制备和表征提供了无与伦比的分辨率、吞吐量和多功能性。

AMBER X 2 利用 Orsay Physics 在等离子体 FIB-SEM 技术方面的深厚专业知识，为材料科学应用提供了显著优势，包括提高精度，实现完全自动化的 TEM/STEM 样本制备，以及增强的铣削效率。这些优势与改进的 FIB 光学参数、无场 SEM 柱和多模态、多尺度材料表征能力相结合，为研究人员提供了全面的解决方案。

TESCAN AMBER X 2 重新定义等离子双束电镜：速度、精度、好用度完美提升

主要特点

• TESCAN MistralTM PFIB离子束镜筒技术：优化离子束参数，提供卓越的离子束轮廓，简化工作流程，提高精度、低离子束能量下的定位精度和切割打磨性能。

• TEM AutoPrep Pro™ 人工智能TEM自动制样软件技术：完全自动化的工作流程，实现精确高效的 TEM 样本制备。

• 无磁场干扰的超高分辨扫描电镜镜筒：消除浸没式光学限制，能对各种材料进行高分辨率成像，具有广阔的视野和各种扫描模式。

• 多模态和多尺度分析：AMBER X 2 支持独特的 3D 方法，如实时 3D ToF-SIMS，可以获得对电池研究很重要的详细元素组成分析。

TESCAN AMBER X 2 的产品市场经理 Martin Slama 表示：“我们很高兴向材料科学界介绍 AMBER X 2 等离子体 FIB-SEM。这款创新产品提供了高分辨率、高通量表征和 TEM/STEM 样本制备的全自动化，颠覆了多用途材料表征实验室中 Ga FIB-SEMs 的传统地位。”

发布网络研讨会和活动：

为了展示 AMBER X 2 的能力，TESCAN 将举办一系列发布网络研讨会和活动：

• 8月20日：AMBER 2/AMBER X 2 线上发布会（有中文字幕，答疑时段有中方沟通支持）

• 8月22日：3D表征 FIB-SEM 网络研讨会

• 9月3日：TEM 薄片制备 FIB-SEM 网络研讨会

• 9月5日：纳米原型制作 FIB-SEM 网络研讨会

2024年哥本哈根 EMC 正式发布：

继在俄亥俄州克利夫兰的 M&M 2024 会议上首次宣布后，TESCAN AMBER X 2 将于8月25日在哥本哈根的 EMC 会议上正式发布。我们邀请所有与会者参加 TESCAN 在 B9 展位的系统介绍，与我们迄今为止zui先进的等离子体 FIB-SEM 的开发者见面，并探索其全部功能。

AMBER X 2 可在捷克布尔诺的 TESCAN 实验室进行演示，EMC 之后，它也将在美国宾夕法尼亚州沃伦代尔的实验室提供。

有关 TESCAN AMBER X 2 的更多详情或注册网络研讨会，请访问我们的网站 info.tescan.com/matsci-fib-sem。

关于 TESCAN 集团：

TESCAN 成立于 1991 年，最初由 4-5 名工程师组成的初创公司，现已发展成为一家拥有 700 多名员工的集团，集团拥有5家研发中心、2个生产基地以及8家海外子公司分布8个国家。我们是电子光学仪器的领先者，包括扫描和扫描透射电子显微镜（SEM & STEM）、聚焦离子束电子束双束电镜（FIB）和 显微CT（micro-CT），已售出并在全球 80 多个国家运行超过 4000 台仪器。

TESCAN一直保持拓展势头。2013年与法国定制聚焦离子束电子束技术的全球领导者 ORSAY PHYSICS 合并并扩展；2018 年收购了比利时动态micro-CT 技术领域的创新者 XRE；2023年美国凯雷注资TESCAN。TESCAN集团的总部位于捷克共和国布尔诺，我们的大部分仪器都在这里专业组装、测试，并发往全球客户。

新闻联系人：

如需更多信息、采访请求或媒体查询，请联系：

Linda Bilal，高级全球市场经理

全球市场部

TESCAN GROUP, a.s.; Libušina tř. 21; 623 00 Brno – Kohoutovice; Czech Republic

公众号：TESCAN公司