岛津参加第二十六届高校分析测试中心研究会年会暨第二届中国分析测试协会高校分析测试分会年会

第二十六届高校分析测试中心研究会年会暨第二届中国分析测试协会高校分析测试分会年会于2022年8月19日-21日在江苏镇江圆满举办，会议由江苏大学分析测试中心、江苏大学化学化工学院、大连科学邦信息技术有限公司承办，江苏省分析测试协会协办。会议分为5个分论坛，邀请超300位专家学者，采用线上线下同步直播的方式，围绕高校分析测试平台发展与标准化体系建设的机遇和挑战，前沿科学研究与技术创新发展等相关热点问题，组织专题报告、开展研讨交流。

会议首先由中国分析测试协会高校分析测试分会主任委员/清华大学教授李景虹院士，江苏大学校长颜晓红致开幕辞，颜校长对参会嘉宾的莅临表示诚挚欢迎，并预祝本次大会圆满成功。随后，会议进入到大会报告环节，李景虹院士、中国分析测试协会理事长/中国环境化学与生态毒理学国家重点实验室江桂斌院士、中国钢研科技集团有限公司王海舟院士、国家市场监督管理总局认可与检验检测监管司一级巡视员乔东、教育部高等学校科学研究发展中心处长曾艳、江苏大学分析测试中心主任李艳肖分别带来精彩的报告。

江苏大学校长 颜晓红致词

《高校分析测试分会工作报告》

中国分析测试协会高校分析测试分会主任委员/清华大学教授 李景虹院士

《新污染物治理——从基础研究到国家战略》

中国分析测试协会理事长/中国环境化学与生态毒理学国家重点实验室江桂斌院士

《标准化——高质量发展的重要引擎》

中国钢研科技集团有限公司 王海舟院士

岛津企业管理（中国）有限公司（以下简称“岛津”）积极参与并支持了本次大会，在首日的分会场报告中，分析计测市场部XPS首席技术专家龚沿东先生为与会代表带来了题为《表面分析- X射线光电子能谱(XPS)-从超薄到超厚》的报告，介绍了XPS分析的基本原理及岛津/Kratos的光电子能谱仪的特色硬件，给出了从表面的超薄层(~1nm)到超厚层(~20微米)的元素及其化学状态的深度分布的分析方法。利用角分辨XPS分析技术并配合最大熵表面深度信息重构软件，可以将XPS的信息深度从常规的法向检测10nm减小至1nm左右；使用岛津/Kratos的单色高能Ag阳极，可以将XPS的信息深度从普通常规单色Al阳极的10nm延展到20nm左右；结合岛津/Kratos最高能量20keV的Ar团簇离子枪，可以实现超厚膜层结构的高速深度剖析。与会专家对岛津的报告给予了高度评价。

《表面分析- X射线光电子能谱(XPS)-从超薄到超厚》

岛津企业管理（中国）有限公司 龚沿东先生发表

会议期间，许多参会专家莅临岛津展位，翻阅和下载电子应用资料，同时与岛津工作人员就合作项目、技术难点等进行了沟通交流。

岛津企业管理（中国）有限公司 展台

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