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第三代半导体专利分析——碳化硅篇

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分享: 2021/10/27 18:09:28
导读: 仪器信息网特统计分析了碳化硅相关专利信息,以期为从业者提供参考。

第三代半导体材料主要是以碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)、氧化锌(ZnO)、金刚石、氮化铝(AlN)等为代表的宽禁带半导体材料。与第一、二代半导体材料相比,第三代半导体材料具有更宽的禁带宽度、更高的击穿电场、更高的热导率、更高的电子饱和速率及更高的抗辐射能力,更适合于制作高温、高频、抗辐射及大功率器件,通常又被称为宽禁带半导体材料(禁带宽度大于2.3eV),亦被称为高温半导体材料。

从目前第三代半导体材料及器件的研究来看,较为成熟的第三代半导体材料是碳化硅和氮化镓,而氧化锌、金刚石、氮化铝等第三代半导体材料的研究尚属起步阶段。碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN),被行业称为第三代半导体材料的双雄。

专利一般是由政府机关或者代表若干国家的区域性组织根据申请而颁发的一种文件,这种文件记载了发明创造的内容,并且在一定时期内产生这样一种法律状态,即获得专利的发明创造在一般情况下他人只有经专利权人许可才能予以实施。在我国,专利分为发明、实用新型和外观设计三种类型。

专利文献作为技术信息最有效的载体,囊括了全球90%以上的最新技术情报,相比一般技术刊物所提供的信息早5~6年,而且70%~80%发明创造只通过专利文献公开,并不见诸于其他科技文献,相对于其他文献形式,专利更具有新颖、实用的特征。可见,专利文献是世界上最大的技术信息源,另据实证统计分析,专利文献包含了世界科技技术信息的90%~95%。

如此巨大的信息资源远未被人们充分地加以利用。事实上,对企业组织而言,专利是企业的竞争者之间惟一不得不向公众透露而在其他地方都不会透露的某些关键信息的地方。因此,通过对专利信息细致、严密、综合、相关的分析,可以从其中得到大量有用信息。

基于此,仪器信息网特统计分析了第三代半导体中碳化硅材料的专利信息,以期为从业者提供参考。本文搜集信息源自网络,不完全统计分析仅供读者参考,时间以专利申请日为准

专利申请趋势分析(1985-2021

专利申请趋势分析(2010-2020

本次统计,以碳化硅为关键词进行检索,共涉及专利总数量为66318条(含世界知识产权组织940条专利),其中发明专利53498条、实用新型专利11780条和外观专利100条。从专利申请趋势分析(1985-2021)可以看出,2018年前相关专利呈现出不断增长的趋势,尤其是2018年之前十年的增长速度很快,2018年专利申请数量达到巅峰8081件,但此后专利申请量开始减少。这表明在18年前十年是碳化硅材料的研究高峰期,此后研发强度逐渐降低,一般而言这也意味着相关产业的前期研发已完成,步入了产业化阶段,市场生命周期进入成长期(行业生命周期分为四个阶段形成期、成长期、成熟期和衰退期)。由于数据采集时未到2021年底,2021年数据趋势不具有代表性。

申请人数量趋势分析(2010-2020

发明人数量趋势分析(2010-2020

进一步分析2010-2020年之间的专利申请人数量趋势可以发现,申请相关专利的自然人也在18年之后略有下降。这表明在相关领域持续投入研发的企事业单位和科研院所也在逐渐减少,市场竞争机制加剧,企业的生命力越来越短,市场呈现出竞争对手减少的态势,未来市场将逐渐淘汰一些研发不足的企业。从发明人数量趋势变化可以发现,相关发明人在2019年达到顶点,但2018-2020年之间逐渐比较平稳,这表明相关研发工作也不在大规模招聘研发人员,未来从业者数量将趋于平稳。(专利申请人就是有资格就发明创造提出专利申请的自然人、法人或者其他组织,本调研中大部分为企事业单位和科研院所;专利法所称发明人或者设计人,是指对发明创造的实质性特点作出创造性贡献的人)

TOP10申请人专利量排行及专利类型分布

TOP10发明人专利量(排除公告姓名)

那么从事相关研发工作的主要有哪些单位呢?从申请人专利量排行可以看出,中芯国际在碳化硅领域的布局较多,其北京和上海的公司都要大量专利布局。具体来看,中芯国际的专利主要分布于半导体器件中的碳化硅层的生长、掺杂、刻蚀等工艺方面;三菱电机的专利主要集中于外延晶片的制造和相关半导体装置等方面。中芯国际和三菱不仅在中国发明专利量方面领先,同时发明授权专利数量也较多。

碳化硅相关专利申请区域统计

通过对区域专利申请量进行统计能够了解到目前专利技术的布局范围以及技术创新的活跃度,进而分析各区域的竞争激烈程度。从专利申请区域可以看出,碳化硅专利申请人主要集中于江苏省、广东省等,这些地区都是半导体产业发达的地区,其在第三代半导体方面的布局也快人一步。

需要注意的是,本次统计以碳化硅为关键词检索,部分检索专利非半导体领域,相关结仅供参考。


[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载

标签: 碳化硅
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作者:KPC

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