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离子迁移被认为是决定化学、生物和材料科学中许多器件性能的关键步骤。然而,对各向异性纳米结构间固相离子迁移的直接可视化和定量研究一直是一个具有挑战性的课题。
中科大俞书宏院士、上海交大邬剑波等人在Journal of the American Chemical Society上发表了题为"Real-time visualization of solid-phase ion migration kinetics on nanowire monolayer"的文章,报道了用原位ChemTEM方法定量研究共组装纳米线(NWs)之间的固相离子迁移过程。
化学透射电子显微镜(ChemTEM)是一种新兴技术,可以使电子束在成像过程中触发化学反应。通过调节电子束剂量率,可以很好地控制化学反应的类型和速率以及键解离。
报道中利用原位ChemTEM方法定量研究共组装纳米线(NWs)间固相离子迁移过程。
研究人员以在Te纳米线上的Ag离子作为研究模型,通过原位ChemTEM技术揭示了Ag在单层TeNWs阵列上的各向异性迁移行为。此外,ChemTEM表征技术也观察到了Ag在Se@ Te NWs上的迁移和Cu在Te NWs上的迁移,进一步证实了固相离子迁移机制。
这些发现提供了对纳米系统中普遍存在的固相离子迁移动力学的重要见解,并为探索其他离子迁移过程提供了一个有效的工具,有助于将来制备定制的和新的异质纳米结构。
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