扫描电镜
iCEM 2017邀请报告:
扫描电镜在岩石矿物分析中的应用
原园 博士
中国科学院地质与地球物理研究所
报告摘要:
扫描电镜中的高能入射电子束轰击样品表面,从样品中激发出各种有用的信息,包括二次电子、背散射电子、X 射线等不同的信号,这些信号分别携带样品的形貌和成分等信息。
利用扫描电镜对新鲜断面样品或是氩离子抛光样品进行二维扫描,可以得到样品中不同矿物的结构形貌和元素成分等信息,进而确定矿物类型;结合分析软件可以对矿物的二维分布、含量、颗粒形态等信息进行提取。扫描电镜和聚焦离子束结合,对样品进行切割及三维重构,可以分析矿物的三维空间分布特征。
报告人简介:
原园,博士,毕业于中国石油大学(北京)非常规天然气研究院,现任职于中国科学院地质与地球物理研究所微纳结构成像实验室。
报告时间:2017年6月22日下午
立即免费报名:http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017/
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