愿历尽千帆,归来仍少年
成果名称 | TTE系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪 | ||
单位名称 | 北京工业大学新型半导体器件可靠性物理实验室 | ||
联系人 | 冯士维 | 联系邮箱 | shwfeng@bjut.edu.cn |
成果成熟度 | □正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产 | ||
合作方式 | □技术转让 √技术入股 √合作开发 √其他 | ||
成果简介: TTE-400 LED灯具模组热阻测试仪 TTE-500 多通道瞬态热阻分析仪 TTE-LD100 激光器用瞬态热阻分析仪 TTE-M100 功率器件用瞬态热阻分析仪 TTE-H100 HEMT用瞬态热阻分析仪 TTE-S200 LED热特性快速筛选仪 TTE系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪是用于半导体器件(LED、MOSFET、HEMT、IC、激光器、散热器、热管等)的先进热特性分析仪,依据国际JEDEC51的瞬态热测试方法,能够实时采集器件瞬态温度响应曲线(包括升温曲线与降温曲线),采样间隔高达1微秒,结温分辨率高达0.01℃。利用结构函数算法能方便快捷地测得器件热传导路径上每层结构的热学性能,构建等效热学模型,是器件封装工艺、可靠性研究和测试的强大支持工具,具有精确、无损伤、测试便捷、测试成本低等优点。该成果已在公司和科研院所等20多家单位应用,并可定制化生产。 | |||
应用前景: | |||
知识产权及项目获奖情况: |
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