磁光克尔效应磁滞回线测量仪

从当下主流的机械硬盘，到未来的磁性存储单元，磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。相较于电学霍尔测量和震动磁强计，光磁克尔效应具有测量速度快，精度高，非侵入，且不需要对样品进行加工或切片等操作的特点。

通过对磁滞回线的分析，用户不但可以得到矫顽力及相对磁化强度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向异性等性质。针对不同矫顽力的多层磁性薄膜结构，磁光克尔测量可以分析出逐层的磁滞回线信息。

托托科技提供的标准系统按照性能优先，稳定性优先的设计思路，可以满足实验室研究及工业生产中各种磁性薄膜材料的测试需求。针对不同磁各向异性材料的光学响应，我们提供两种测试组件：PMA Checker 以及IMA Looper，两种系统共享一套数据采集系统，切换方便。“控制盒+光磁主体+电脑”的套装（如上图所示）即是完整的设备，无需任何外置仪表（电源，锁相放大器）客户即可快速完成磁滞回线的测量；此外，客户可以自主选择使用锁相放大器（SR830/810，Zurich MFLI）进行数据采集，该设备预留了与锁相放大器匹配的接口。

该产品提供基于LabView的程序，方便客户快速上手。基于C，Python的控制程序也可应客户要求提供。

【应用示例】

1.自旋/磁电子学

2.磁性纳米技术

3.非易失性磁性随机存储器

4.磁阻研究

5.磁性薄膜

6.磁性传感器

【产品定位/推荐】

该系统的定位是为客户提供稳定、快捷、超高性价比的磁滞回线测量设备，最简单的也是最可靠的。如需更多附加功能，例如：磁畴成像，微区测量，集成温控设备，集成电学测量设备，集成样品扫描成像等选项，我们建议客户考虑TTT-Mag-Kerr Microscope 系列产品。

TTT-Mag-PMA Checker不具备空间分辨能力，光斑直径为1毫米。

【敬告】

1.精密设备，轻拿轻放。

2.在恶劣环境中使用该产品可能会导致产品性能下降。

3.擅自拆解模组视为放弃质保。