德瑞检测 换气式高温老化箱DR-H306-500

GB/T 5169.30-2020电工电子产品着火危险试验第30部分：热释放试验方法概要和相关性

1 范围 GB/T5169的本部分给出了已公开发表的测量电工电子产品或构成材料在着火试验中热释放的试验方法概要。本部分陈述了当前试验方法的新技术状态，在适当之处，还包括对其相关性和使用的特殊观察。 试验方法清单并不是详尽无遗的，除非有特别说明，否则未经IEC开发的试验方法是不被IEC认可的。 如IEC 60695-1-10、IEC 60695-1-11EC 60695-1-12-00所述，热释放数据可作为着火危险评定和防火安全工程的组成部分。 本部分旨在供产品委员会根据IEC Guide 104 和ISO/IEC Guide 51中规定的原则编写标准时使用。 产品委员会的任务之一就是在编写自己的标准时，凡适用之处都要使用本系列标准。除非有关标准特别提及或列出不适用，否则本部分的要求、试验方法或试验条件都适用。

GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验

1 范围 本部分规定了军用装备实验室高温试验的目的与应用、剪裁指南、信息要求、试验要求、试验过程和结果分析的内容。 本部分适用于对军用装备进行高温试验。 2 引用文件 下列文件中的有关条款通过引用而成为本部分的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本部分，但提倡使用本部分的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GJB 150.1A-2009军用装备实验室环境试验方法 第1部分：通用要求 GJB 150.7A-2009军用装备实验室环境试验方法 第7部分：太阳辐射试验 GJB 1172.2-1991 军用设备气候极值 地面气温GJB 4239装备环境工程通用要求 3 目的与应用 3.1 目的 本试验的目的在于获取有关数据，以评价高温条件对装备的安全性、完整性和性能的影响。 3.2 应用本试验适用于评价在高温环境中使用的装备。 3.3 限制 本试验仅适用于评价时间相对较短(数月而不是数年)、整个试件热分布均匀的热效应，一般不适用于： a) 评价长期稳定地暴露于高温条件(贮

GB/T 32710.11-2016 环境试验仪器及设备安全规范 第11部分：空气热老化试验箱

1 范围 GB/T 32710的本部分规定了测量、控制与实验室用的空气热老化试验箱的电击和电灼伤，机械危险，火焰从设备内向外蔓延，过高温，流体和流体压力的影响，辐射影响(包括激光器、声压和超声压),释放的气体、爆炸和内爆以及化学危险的安全内容。但不包括与安全无关的设备的可靠功能、性能或其他特性、运输包装的有效性、电磁兼容(EMC)要求、对爆炸环境的防护措施、维修(修理)、维修(修理)人员 的防护。 本部分适用于测量、控制与实验室用的空气热老化试验箱。注：这类仪器与设备可能是探入式试验箱，也可能是步入式试验箱。

GB/T 32710.10-2016 环境试验仪器及设备安全规范 第10部分：电热干燥箱及电热鼓风干燥箱

1 范围 GB/T 32710的本部分规定了测量、控制与实验室用的电热干燥箱，电热鼓风干燥箱，真空干燥箱，红外线干燥箱和远红外线干燥箱等的电击和电灼伤，机械危险，火焰从设备内向外蔓延，过高温，流体和流体压力的影响，辐射影响(包括激光器、声压和超声压),释放的气体、爆炸和内爆以及生物和化学危险的安全内容。但不包括与安全无关的设备的可靠功能、性能或其他特性、运输包装的有效性、电磁兼容(EMC)要求、对爆炸环境的防护措施、维修(修理)、维修(修理)人员的防护。 本部分适用于测量、控制与实验室用的电热干燥箱，电热鼓风干燥箱，真空干燥箱，红外线干燥箱和远红外线干燥箱等。 注：这类仪器与设备可能是探入式干燥箱，也可能是步人式干燥箱。

GB/T 32065.4-2015 海洋仪器环境试验方法 第4部分：高温试验

1 范围 GB/T 32065的本部分规定了海洋仪器高温试验的试验要求、试验过程和相关信息。 本部分用于考核或确定海洋仪器在高温环境条件下使用的适应性，也可作为其零部件和组件的低温环境试验的参考。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 32065.1—2015海洋仪器环境试验方法 第1部分：总则 3试验要求 3.1 一般要求 海洋仪器高温试验的标准大气条件、试验样品安装、试验温度稳定、试验中断处理等应分别按照GB/T 32065.1—2015中4.2、6.1、6.2和第7章的规定进行。 3.2 试验设备和试验准备 3.2.1 试验设备应符合GB/T 32065.1—2015中第5章的规定。 3.2.2试验时，试验样品应尽可能的靠近试验箱(室)的中央，其任何表面与对应的试验箱(室)壁间的最小距离应大于15cm,且试验箱(室)内的风速应不大于1.7 m/s。 3.2.3 若安装架或连接件与试验样品一起试验，则试验样品体积中应包括其体积

GB/T 4937.23-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命

GB/T 4937.23—2023/IEC 60749-23:2011 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命 1 范围 本文件描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼，可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。

GB/T 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分：可焊性

1 范围 GB/T4937的本部分规定了采用铅锡焊料或无铅焊料进行焊接的元器件封装引出端的可焊性试验程序。 本试验方法规定了通孔、轴向和表面安装器件(SMDs)的"浸入和观察"可焊性试验程序，以及可选的SMDs板级安装可焊性试验程序，用于模拟在元器件使用时采用的焊接过程。本试验方法也规定了老化条件，该条件为可选。 除有关文件另有规定外，本试验属于破坏性试验。 注1:本试验方法与GB/T2423基本一致，但由于半导体元器件的特殊要求，采用本试验方法。 注2:本试验方法未对焊接过程中可能产生的热应力影响进行评估。参见IEC 60749-15或IEC 60749-20。