核心参数
最高温度: 150℃以下
产地类别: 国产
产品类型: 空气热老化试验箱
温度范围: -70℃~150℃
温度均匀度: ±2.0℃
温度波动度: ±0.5℃
温度偏差: ±0.5℃
升温时间: 平均1℃/min 空载
换气率: 平均≥1℃/min 空载
工作室尺寸(W×H×D): 400x500x500
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GB/T 5169.39-015电工电子产品着火危险试验第39部分:燃烧流的毒性试验结果的使用和说明
1 范围 GB/T 5169的本部分涉及用于测量电工电子产品或其材料燃烧流毒性组分的实验室试验,并提供了这些试验结果的使用和说明,讨论了与ISO/TC 92/SC3制定的ISO 13344;2004、ISO 13571:2007、ISO 16312-1、ISO/TR 16312-2、ISO 19701、ISO 19702和ISO 19706一致的现行可用毒性危险评定方法。本部分还提供了这些毒效数据在着火危险评定中的使用导则,构成着火危险评定中可燃性和毒性资料的指导原则。 本部分描述的试验方法适用于有关燃烧流致无能力效果和致死效果的数据。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 ISO 13344:2004燃烧流致死毒效的测定(Estimation of the lethal toxic potency of fire efflucnts)ISO 13571:2007 火灾生命威胁部分 使用火灾数据预估逃生时间的指导方针
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2023/11/13
GJB 150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验
1 范围 本部分规定了军用装备实验室低气压(高度)试验的目的与应用、剪裁指南、信息要求、试验要求、试验过程和结果分析的内容。 本部分适用于对军用装备进行低气压(高度)试验。 2 引用文件 下列文件中的有关条款通过引用而成为本部分的条款。凡注日期或版次的引用文件,其后的任何修改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本部分,但提倡使用本部分的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件,其最新版本适用于本部分。 GJB 150.1A-2009军用装备实验室环境试验方法 第1部分:通用要求 GJB 150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验 GJB 150.24A-2009军用装备实验室环境试验方法 第24部分:温度-湿度-振动-高度试验GJB 4239装备环境工程通用要求 3 目的与应用 3.1 目的 本试验的目的在于确定装备在常温条件下能否: a) 耐受低气压环境; b) 在低气压环境下正常工作; c) 耐受空气压力快速变化。
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2023/09/22
GB/T 5170.17-2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
1 范围 1.1 本部分规定了低温/低气压/湿热综合顺序试验设备在进行周期检定时的检定项目、检定用主要仪器及要求、检定条件、测量点数量及布放位置、检定步骤、数据处理及检定结果等内容。 1.2本部分适用于对GB/T 2423.27—2005《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法》所用试验设备的周期检定。 本部分也适用于类似试验设备的周期检定。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T 5170的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。 GB/T 2423.27-2005电工电子产品基本环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AMD:低温/ 低气压/湿热连续综合试验(IEC 60068-2-39:1976,IDT) GB/T 5170.1—1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 总则GB/T 6999 环境试验用相对湿度查算
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2023/09/22
GB/T 5170.10-2017 环境试验设备检验方法 第10部分:高低温低气压试验设备
1范围 GB/T 5170的本部分规定了高低温低气压(含低气压、低温低气压和高温低气压)试验设备(以下简称"设备")的检验项目、检验用仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期等内容。 本部分适用于对GB/T 2423.21、GB/T 2423.25和GB/T 2423.26所用设备的检验。本部分也适用于类似设备的检验。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.21 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验M:低气压 GB/T 2423.25 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 GB/T 2423.26 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 GB/T 5170.1—2016 电工电子产品环境试验设备检验方法 第1部分:总则GB 12348—2008 工业企业厂界环境噪声排放标准
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2023/09/22
GB/T 14092.3-2009 机械产品环境条件 高海拔
1 范围 本部分规定了机械产品高海拔环境条件的环境参数及其严酷等级。 本部分适用于1000m~5000m高海拔地区使用的一般用途的机械工业产品。包括农机具、内燃机、工程机械、矿山机械、石化通用机械、电工产品、仪器仪表、机床工具、通用零部件、重型机械、起重运输机械等。 本部分不适用于高海拔地区存在爆炸危险介质、矿井等特殊环境条件下使用的机械产品。
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2023/09/16
DZ 0039.10-92地质仪器产品基本环境试验条件及方法 低气压试验
1 主题内容与适用范围 本标准规定了地质仪器产品(以下简称产品)低气压试验条件及试验方法。本标准适用于有低气压要求的各类地质仪器产品的低气压试验。目的在于确定受试产品在常温低气压环境条件下使用、运输和贮存的适应性及密封的完好性。 2同时使用的标准 本标准与DZ 0039.1《地质仪器产品基本环境试验条件及方法 总则》同时使用。 3试验条件 低气压试验条件见表:
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2023/09/12
GB/T 12085.23-2022 光学和光子学 环境试验方法 第23部分:低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验
1 范围 本文件描述了低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)的低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验。 4试验条件 本文件将大气温度设为(23±3)℃。 表1~表6规定的温度和气候条件,按GB/T12085.2中规定的条件试验方法10、11和12。在选择试验箱尺寸和试样安装时,应保证试验箱(室)内所有试样的温度均匀。 对于条件试验方法45、46、50和51,需要在低压箱(室)中进行空气循环。低压箱(室)本身,既可以作为一个温热箱(室),也可以安装在一个温热箱(室)里。 对于条件试验方法47至49,需要一个气候试验箱(室)。采用三种不同的试验方法,对光学和光子学仪器的耐湿热和耐内压综合性能进行试验。允许试样上有露水。每个试验步骤应逐个连续进行,不准许试验中断。 除条件试验方法47之外,如产生冷凝,应保护试样不受冷凝水下落影响。除条件试验方法48之外,还需要低压容器。除条件试验方法49之外,按GB/T12085.8规定,试样还应有一个连接器,用于排气和压力测量。
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2023/09/01
GB/T 12085.21-2011 光学和光学仪器 环境试验方法 第21部分:低压与大气温度、高温综合试验
1 范围 本部分规定了低压与大气温度、高温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 3一般试验条件 本部分规定的大气温度为(23±3)℃。 表2规定的温度值选自GB/T12085.2中的条件试验方法11. 试验条件采用空气循环的低压箱(室)。低气压箱本身可作为温热箱,也可将其安装在温热箱中。试验箱(室)的大小及所选试样的布置状态,应能保证所有试样都处于均匀的温度下。 如需预热,应在降压之前开始加热,以达到试验箱(室)温度。试验气压设置宁肯最迟,也要先达到试验箱温度。 升压时,试样上不许有凝露。这可用高纯氮气或干燥空气为试验箱通风的方法实现。 温度变化应缓慢进行,以免引起试样的损坏。在改变箱内气压时,应避免气压的急剧变化,因为这样也不符合自然条件。 试样的各个部分都调整到试验箱(室)的温差在3K之内并达到规定的气压值时,试验条件周期开始。发热的试样应置于试验温度下,直到试验箱(室)温度稳定期间试样的温度变化不超过1K/h,然后开始降压。在降压过程中,允许试样自身发热,直到试验压力达到规定值时,试验条件周期就开始。
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2023/09/01
GB/T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分:低温、低气压综合试验
1 范围 本部分规定了低温与低气压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于在高山地区或飞机仪表盘上或导弹上使用的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电学等特性受到低温与低气压影响的变化程度,包括测定水的冷凝和冻结对仪器或零部件的附加影响。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T 12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。 GB/T12085.1 光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围
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2023/09/01
GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
1范围 本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力,而这种失效是由于气压减小时,空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1000 V的器件。 本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。 本项低气压试验方法和IC 60068-2-13大体上一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,使用本部分条款。2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T4937的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。 IEC 60068-2-13 环境试验 第2部分:试验M:低气压 3试验设备 本试验所需仪器设备包括一台真空泵、一个合适的密封室(必要时,该密封室还应具备能观察样品的装置)、一台可用于测量密封室模拟高度的气压表和一只能在直流到30 MHz内检测电流的微安表或示波器。
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2023/08/30
GB/T 4797.2-2017环境条件分类 自然环境条件 气压
1 范围 GB/T 4797的本部分给出了自然环境中存在的不同海拔的气压值,作为产品贮存、运输和使用时选择适当气压严酷等级的背景材料。 在为产品应用选择气压参数的严酷程度时,可以使用本部分中的数值。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 IEC 60721-1 环境条件分类 第1部分:环境参数及其分类(Classification of environmental con-ditions—Part 1;Enviromental parameters and their severities)
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2023/08/26
GB/T 2424.15-2008电工电子产品环境试验温度/低气压综合试验导则
1 范围和规范性引用文件 1.1 范围 GB/T 2424的本部分规定的温度/低气压综合试验,涉及地面或空中应用的一系列气压。本部分不适用于气压小于1kPa的试验。 1.2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T 2424的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。 GB/T 2424.1—2005 电工电子产品环境试验 高温低温试验导则(IEC 60068-3-1:1974,IDT)
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2023/08/26
GB/T 2423.21-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验M:低气压
1 导言 1.1 范围 本部分适用于室温条件下的低气压试验。 本试验的目的是用于确定元件、设备或其他产品在低气压条件下贮存、运输或使用的适应性。注:在高温和低气压综合或低温和低气压综合环境下贮存、运输或使用的产品,这种综合环境对于施加于产品上的应力或失效机理的影响是十分重要的,应按下列标准进行试验: —GB/T 2423.25电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 —GB/T 2423.26电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验
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2023/08/23
GB/T 11159-2010低气压试验箱技术条件
1 范围 本标准规定了低气压试验箱(以下简称试验箱)的术语和定义、使用条件、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、贮存。 本标准适用于对电工、电子产品及其他产品、零部件及材料进行低气压试验的试验箱。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB 191—2000包装储运图示标志(eqv ISO780:1997) GB 14048.1—2006低压开关设备和控制设备 第1部分:总则(mod IEC 60947-1:2001) JB/T 9512—1999 气候环境试验设备与试验箱 噪声声功率级的测定
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2023/08/23
GB/T 10591-2006高温/低气压试验箱技术条件
1 范围 本标准规定了高温/低气压试验箱(以下简称“试验箱”)的术语和定义、使用条件,技术要求,试验方法,检验规则及标志、包装、贮存。 本标准适用于对电工、电子及其他产品、零部件及材料进行高温/低气压试验的试验箱。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓勋根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB/T 191-2000包装储运图示标志(eqv ISO 780:1997) GB/T 14048.1—2000低压开关设备和控制设备 总则(eqv IEC 60947-1:1999) JB/T 9512-1999气候环境试验设备与试验箱 噪声声功率级的测定 JJF 1059—1999测量不确定度评定与表示
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2023/08/23
GB/T 10590-2006高低温/低气压试验箱技术条件
1 范围 本标准规定了高低温低气压试验箱(以下简称试验箱)的术语和定义、使用条件、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、贮存。 本标准适用于对电工、电子产品及其他产品、零部件及材料进行高低温低气压试验的试验箱。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB/T 191—2000包装储运图示标志(eqv ISO 780:1997) GB/T 14048.1—2000低压开关设备和控制设备 总则(eqv IEC 60947-1:1999) JB/T 9512—1999气候环境试验设备与试验箱 噪声声功率级的测定 JJF 1059—1999 测量不确定度评定与表示
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2023/08/23
广东德瑞检测设备有限公司
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