GB/T 4937.2-2006 半导体器件机械和气候试验方法第2部分：低气压

2023-08-30 10:54

浏览：34次

资料摘要：

1范围本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1000 V的器件。本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。本项低气压试验方法和IC 60068-2-13大体上一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，使用本部分条款。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T4937的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 IEC 60068-2-13 环境试验第2部分：试验M:低气压 3试验设备本试验所需仪器设备包括一台真空泵、一个合适的密封室(必要时，该密封室还应具备能观察样品的装置)、一台可用于测量密封室模拟高度的气压表和一只能在直流到30 MHz内检测电流的微安表或示波器。

相关资料

GB/T 4909.7-2009 裸电线试验方法第7部分：卷绕试验

1 范围 GB/T4909的本部分规定了裸电线卷绕试验的试验设备、试件制备、测量步骤、试验结果及评定等。本部分适用于测定标称直径d为0.3mm～10.0mm的铜、铝及其合金、双金属线等圆截面导体及特征尺寸a≤20.0mm的异形截面导体(如接触线等)的卷绕性能。本试验方法是将试件围绕规定直径的试棒卷绕规定圈数，观察其表面的变化。卷绕方式可以是重复卷绕或一次卷绕。本部分应与GB/T 4909.1--2009一起使用。 2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T4909的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有申嵯改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研穷是香可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GB/T4909,y-2009裸电线试验方法第1部分：总则

GB/T 4909.6—2009裸电线试验方法第6部分：弯曲试验——单向弯曲

1 范围GB/T4909的本部分规定了裸电线弯曲试验中的单向弯曲试验的试验设备、试件制备、测量步骤、试验结果及评定等。本部分适用于测定标称直径d为0.300 mm～10.00 mm的铜、铝及其合金、双金属线等圆形、矩形截面导体的单向弯曲性能。本部分是将试件沿规定弯曲半径弯成一定的角度，观察弯曲后试件的张力表面情况。本部分应与GB/T 4909.1—2009一起使用。

GB/T 4909.5—2009 裸电线试验方法第5部分：弯曲试验——反复弯曲

1 范围 GB/T4909的本部分规定了裸电线弯曲试验中的反复弯曲试验的试验设备、试件制备、测量步骤、试验结果及评定等。本部分适用于测定标称直径d为0.3mm～10.0mm的铜、铝及其合金、双金属线等圆截面导体及特征尺寸u≤20.0 mm的异形截面导体(如接触线等)的反复弯曲性能。本部分是将试件一端固定，自由端沿规定半径的圆柱面作正反方向90°的弯曲试验，弯曲到规定的次数或到试件断裂为止。本部分应与GB/T 4909.1—2009一起使用。

GB/T 4909.4—2009 裸电线试验方法第4部分：扭转试验

1 范围 GB/T4909的本部分规定了裸电线扭转试验的试验设备、试件制备、测量步骤、试验结果及评定等。本部分适用于测定标称直径d为0.300mm～10.00 mm的铜、铝及其合金、双金属线等圆截面导体及特征尺寸a≤20.00 mm的异形截面导体(如接触线等)的扭转性能。本部分是将规定长度的试件，以其自身的轴线为中线扭转，直至断裂或达到规定的扭转次数为止。本部分应与GB/T4909.1—2009一起使用。

产品推荐