GB/T 4937.23-2023半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命

2023-09-01 09:41

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资料摘要：

GB/T 4937.23—2023/IEC 60749-23:2011 半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命 1 范围本文件描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼，可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。

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