英飞思矿石矿产分析光谱仪EDX 9000B PLUS
能量色散X射线荧光光谱仪---
矿物矿石矿产成分、品味分析专家
>美国AmpTek-SDD探测器,高分辨率和高计数率
>元素分析范围高达42个元素
• 高性能和最低检测水平
>定制您的测试解决方案
> 高级勘探和土壤分析
• 泥浆记录
• 石油/天然气领域的特殊应用
• 矿床建模/绘图
> 增强轻元素分析
>煤和铁矿石中的铝土矿和惩罚元素
• 工业矿物,包括用于水泥生产的石灰石
>可选的样品架/颗粒用于减少样品异质性问题
EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿物分析专家
EDX9000B 在所有浓度水平下都提供卓越的准确度。它还提供快速(通常 2 到 3 分钟)
回转。为现场带来前所未有的精度和速度,使 EDX9000B 成为应用的理想选择
例如分析岩心 - 例如,检测页岩气边界层 - 能够快速改变方向,最大限度地提高钻井生产率
EDX9000Banalyzer 的购买价格与同类其他仪器相比具有很强的竞争力。在很多情况下,它
也是大型实验室仪器价格的一半。此外,随着采矿或勘探的直接改进
由于准确信息的快速可用性,EDX9000B 提供了出色的回报
投资
生产和矿物加工
快速、实验室级的样品分析变得简单:用很少或没有样品在现场测试您的样品
准备。实现为过程控制、质量保证和其他运营决策提供可靠数据所需的准确性。
• 坡度控制
• 划定矿石和废物边界
• 矿石交易
• 浓度测量
工业矿产
EDX9000B XRF 分析仪是一种新兴的采石场勘探和评估仪器
工业用磷酸盐、钾肥、石膏、石灰石等原料的组成。
• 非常适合确定石灰石中的惩罚元素,
铁矿石和铝土矿
• 原材料的混合和分类
• 即时标记品位、次品位和废料,并防止将矿石带入废料堆
EDXRF简介
EDXRF 仪器将不同元素的特征 X 射线分离成完整的荧光能谱,然后进行处理以进行定性或定量分析。
EDXRF 技术是筛选各种材料的便捷方法,可快速识别和定量从钠 (Na) 到铀 (U) 的元素。
EDXRF 仪器可以是手持式或便携式,具体取决于用户的喜好,使其成为现场分析的完美工具,无需长途跋涉到实验室即可为用户提供即时反馈。低拥有成本和任何样品类型的快速元素分析使 EDXRF 成为有吸引力的前端分析工具。
X 射线荧光 (XRF) 分析(或光谱法):一种仪器、比较分析方法
基于外部X辐射的材料原子或适当能量(波长)的伽马辐射,特征能量量子的近瞬时发射(荧光)现象
放射性同位素或 X 射线管用作外部辐射源以激发样品
>仪器规格
光谱仪尺寸:560mm*380mm*410mm
样品室尺寸:460mm*310mm*95mm
真空样品室尺寸:Φ150mm×高75mm
重量:45Kg
元素范围:Na11-U92
分析含量范围:1ppm- 99.99%
检测器:AmpTek高分辨率SDD
DPP分析仪:4096通道DPP分析仪
激发源:50W X射线管
高压机组:0-50kV
电源:220ACV 50/60HZ
环境:-10 °C 到35 °C
全新设计的XTEST分析软件
软件内核包括基本参数法(FP),经验系数法(EC),可轻松分析各类样品。
*光谱处理参数包括用于定义背景连续性,堆积峰和峰总和,平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量
*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正,即所有基质效应,增强和吸收。
*谱显示:峰定性,KLM标记,谱重叠比较,可同时显示多个光谱图
*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应,将光峰强度建模为高斯函数。
*可以使用纯基本参数方法,具有分散比的基本参数(对于包含大量低Z材料的样品)或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。
*基本参数分析可以基于单个多元素标准,多个标准或没有标准的样品。
铝土矿样品10次连续测试稳定性报告
样品 | 氧化镁 MgO | 三氧化二铝 Al2O3 | 二氧化硅 SiO2 | 氧化钾 K2O | 氧化钙 CaO | 二氧化钛 TiO2 | 氧化锰 MnO | 三氧化二铁 Fe2O3 |
Sample-1 | 0.438 | 84.577 | 8.754 | 0.196 | 0.502 | 3.753 | 0.049 | 1.966 |
Sample-2 | 0.442 | 84.853 | 8.88 | 0.197 | 0.522 | 3.799 | 0.052 | 1.962 |
Sample-3 | 0.424 | 84.508 | 8.81 | 0.197 | 0.509 | 3.852 | 0.051 | 1.983 |
Sample-4 | 0.427 | 84.537 | 8.636 | 0.196 | 0.513 | 3.777 | 0.051 | 1.963 |
Sample-5 | 0.424 | 84.501 | 8.709 | 0.197 | 0.503 | 3.791 | 0.05 | 1.973 |
Sample-6 | 0.415 | 84.496 | 8.737 | 0.2 | 0.513 | 3.861 | 0.051 | 2.013 |
Sample-7 | 0.45 | 84.818 | 8.917 | 0.197 | 0.511 | 3.854 | 0.051 | 1.966 |
Sample-8 | 0.423 | 84.577 | 8.689 | 0.201 | 0.501 | 3.838 | 0.05 | 1.971 |
Sample-9 | 0.447 | 84.381 | 8.74 | 0.199 | 0.495 | 3.853 | 0.05 | 1.971 |
Sample-10 | 0.453 | 84.753 | 8.893 | 0.201 | 0.517 | 3.793 | 0.052 | 1.981 |
Average 平均值 | 0.434 | 84.6 | 8.776 | 0.198 | 0.509 | 3.817 | 0.051 | 1.975 |
Standard Deviation 标准偏差 | 0.013 | 0.155 | 0.094 | 0.002 | 0.008 | 0.039 | 0.001 | 0.015 |
RSD 相对标准偏差 | 3.10% | 0.18% | 1.08% | 0.97% | 1.63% | 1.02% | 1.91% | 0.76% |
配件
>标准 >可选
Ag-校准标准磨机
真空泵压样机
样品杯干燥箱
USB线 熔珠机
电源线平衡
测试麦拉矿物标准样品
校准报告 功率稳定器
保修卡
速度:我们的 XRF 分析仪提供实时分析功能,可以快速做出决策,包括是否钻孔、设备搬迁注意事项、网格的重点以及何时采集适当的样本进行实验室分析。
实时报告:现场分析可以更快地描绘钻探目标,以便及时向管理层和/或投资者报告运营和财务报告。
增加样品密度:在现场运行更多的检测可以实现更精细的网格分辨率,并能够将预认证的样品发送到场外实验室。 借助改进的统计数据,这种高密度分析可以比仅使用传统的袋子和实验室方法更全面地了解目标。
我们的使命宣言
ESI 将为全世界设计、制造、销售和服务高质量的创新分析仪器。
我们将通过——
> 为客户创造价值并提供卓越的客户服务和支持。
>持续改进,对新技术持开放态度。
>通过争取市场领先地位。
>我们所做的一切都以质量为关键。
EDX-9000B XRF Spectrometer
Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer---
Mineral Analysis Expert
>American AmpTek -SDD detector, high resolution and high count rate
>Element analysis range up to 42 elements
• Highest performance and lowest levels of detection
>Customize your testing solutions
> Advanced exploration and soil analysis
• Mud logging
• Specialty applications in oil/gas
• Ore deposit modeling/mapping
> Enhanced light element analysis
>Bauxite and penalty elements in coal and Fe ore
• Industrial minerals including limestone for cement production
>Optional sample holder/pellet for reducing sample heterogeneity issues
EDX9000B Energy Dispersive Fluorescence Spectrometer-Mineral Analysis Expert
EDX9000B provides exceptional accuracy at all concentration levels. It also offers rapid (typically 2 to 3 minutes)
turnaround. Bringing unprecedented precision and speed to the field makes EDX9000B ideal for applications
such as analyzing cores - e.g., to detect shale gas boundary layers - enabling fast direction changes that maximize drilling productivity
EDX9000Banalyzer’s purchase price is highly competitive with other instruments in its class. In many cases, it
is also half the price of larger laboratory instruments. Furthermore, with direct improvements in mining or exploration
productivity due to rapid availability of accurate information, EDX9000B delivers an outstanding return on
investment
Production and Mineral Processing
Fast, laboratory-grade sample analysis is made simple: test your samples on site with little or no sample
preparation. Achieve the accuracy needed to provide defensible data for process control, quality assurance, and other operational decisions.
• Grade control
• Delineate ore and waste boundaries
• Ore trading
• Concentrate measurement
Industrial Minerals
EDX9000B XRF analyzer is an emerging instrument of choice for in-quarry exploration and evaluating the
composition of raw materials such as phosphate, potash, gypsum, and limestone for industrial use.
• Ideal for determining penalty elements in limestone,
Fe ore, and bauxite
• Blending and sorting of raw materials
• Instantly flag grade, sub-grade, and waste, and prevent taking ore to the waste heap
EDXRF Introduction
EDXRF instrumentation separates the characteristic x-rays of different elements into a complete fluorescence energy spectrum which is then processed for qualitative or quantitative analysis.
EDXRF technology is a convenient way to screen all kinds of materials for quick identification and quantification of elements from Sodium (Na) to Uranium (U).
EDXRF instruments may be either handheld or portable depending on user preference, making them the perfect tool for in-field analysis, and providing instant feedback to the user without the long trip to the laboratory. Low cost of ownership and rapid elemental analysis of any sample type make EDXRF an attractive front-end analysis tool.
X-Ray Fluorescence (XRF) Analysis (or Spectrometry): an instrumental, comparative analytical method
Based on phenomenon of near-instantaneous emission (fluorescence) of quanta of characteristic energy by atoms of material irradiated by external X, or gamma radiation of appropriate energy (wavelength)
Radioisotopes or X-ray tubes are used as sources of external radiation to excite sample