固废分析仪

英飞思科学仪器RoHS1.0、2.0符合性测试专家--- EDX 8000B荧光光谱仪

RoHS固废分析专用分析仪

EDX8000B荧光光谱仪是一种专门用于RoHS固废分析的分析仪。该仪器可以快速、准确地检测固废样品中重金属元素的含量，包括铅、汞、镉、铬等多种元素。

概述

>RoHS 合规性和消费者安全

面向消费者/RoHS 的 EDX8000B 是一款方便、快速扫描的 XRF 分析仪，适用于法规遵从性计划，可在几秒钟内提供准确的通过/失败结果。

EDX8000B 是一款坚固且用户友好的 X 射线荧光 (XRF) 分析仪，针对消费品和 RoHS 法规遵从性计划进行了优化。 它具有光线充足的超大样品室、操作简便、集成摄像头和可选择的分析光斑尺寸。

消费品和/或 RoHS 法规的行动级别已预先编程，可快速获得通过/失败结果。

>遵守全球法规

用于监管计划的 EDX8000B 是一种快速、准确且具有成本效益的 XRF 分析仪，针对分析铅 (Pb)、镉 (Cd)、砷 (As)、汞 (Hg)、铬 (Cr) 和金属中的其他有毒元素进行了优化、塑料和混合材料。它提供的检测限完全在大多数材料的典型监管限制范围内。它不仅可以在零售地点进行测试，还可以在装货码头和制造现场进行测试，以便在进口/出口玩具、珠宝、服装、电子产品和其他消费品出现问题之前对其进行筛查。

合规浓度限制

元素 RoHS/WEEE 消费品/CPSIA

镉 <100 ppm 不适用

Cr Cr6+ <1000 ppm 不适用

汞 <1000 ppm 不适用

铅 <1000 ppm <100 ppm

Br PBB PBDE <1000 ppm 不适用

特点和优势

>可靠和增强的用户体验

操作简单明了。一个物体直接放置在分析窗口上，或者如果很小，则固定在样品架/杯中以对其进行定向。室门关闭，操作员按“开始”获取结果。小光点准直器用于非常小的物体或物体上的小区域。对象的数字图像可以以报告格式存储和/或与分析结果一起直接发送到打印机

好处

>>限制元素的快速无损检测

>> LOD 低至 1 ppm 的准确度

>>安全的闭束XRF系统

>>USB接口用于高速数据导出、打印

>>快速、准确、先进的技术

>>50 瓦 X 射线管，1000 μA 电流（最大值），加上优化的光束设置以进行准确分析

>>数字多通道分析仪提供快速可靠的结果，只需几秒钟

>>智能程序，可在 3 秒内自动将样品类型分类为塑料、铁、黄铜、锡或铝基体

>>集成摄像头记录分析图像

>>对于小样品或样品上的小区域，小光斑准直低至 0.5mm

>>具有工厂校准的用户友好和高度智能的程序

>定制化认证报告

EDX8000B PC 报告软件可定制并促进即时报告生成，包括分析结果、定性样品信息、光谱信息和样品图像。可追溯的文档使 EDX8000B 成为 RoHS 合规工具的理想工具。

EDXRF用作未知样品RoHS合规性分析的快速扫描和筛选工具。 EDX8000B 将监管推荐的 XRF 技术与多种增值功能相结合，为 RoHS 合规性分析提供理想的工具，通过无缝集成数据和结果，提供经济的运营成本、空间和时间。

EDX8000B XRF 分析仪采用符合人体工程学且可靠的软件包，通过易于使用的报告软件提供准确、灵敏的分析。 它提供了对大多数材料的典型监管限制范围内的限制检测。 作为 RoHS 合规应用的快速筛选工具，EDX8000B 无人能及。

为了满足客户日益更为严苛的测试需求，特别是对微量痕量元素测试灵敏度和稳定性的更高标准，英飞思ESI全新开发了升级版EDX8000B---RoHS符合性XRF检测光谱仪。相较于基础版本的Si-pin硅针检测器，EDX8000B装备了最高端的SDD硅漂移检测器。更高的样品X光能量数据通量，更好的光谱分辨率，使得检测性能提高了2-3倍。

EDX8000B的优势：

•更快---由于单位时间内可以获得更高样品信号通量，使得测量时间大幅减少。100秒即可达到普通版本仪器200秒的测量效果

•更准---独特的多道分析器DPP可实现超过100,000 cps的线性计数速率而同时保证最优的光谱分辨率，通常优于130 eV（普通Si-pin探测器为160eV），以更好地分离不同元素的光谱。同时，强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体元素间吸收增强效应，并同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰，把测试准确度提高到了新的水平

•更稳---使用超大面积25 mm2铍窗SDD检测器(普通Si-pin检测器6mm²),该款检测器可在相同样品激发条件下获得2-3倍于普通检测器的光谱强度（计数率CPS），从而得到更好的测试稳定性和长期重复性。与传统的Sipin版本台式仪器相比，EDX8000B光谱仪可以全功率运行，因此实现了更为稳定和可靠的测试表现