4月11日,香港科技大学(广州)材料表征与制备中央实验室 (MCPF) 成功举办了一场关于最新表面分析技术的学术沙龙。本次研讨会的主题为 “Hybrid SIMS: 具有高质量分辨能力的二次离子质谱成像技术 "(Hybrid SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) Imaging with High Mass Resolving Power)。
IONTOF资深工程师Sven讲解Hybrid SIMS仪器工作原理和应用案例
Hybrid SIMS仪器是由IONTOF公司开发的,由飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)与轨道离子阱(Orbitrap)质谱仪有机结合而成,能够进行材料的超高质量分辨率质谱测量以及高空间分辨率的二维/三维质谱成像实验。
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