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Xenocs小角X射线散射仪检测高分子基纳米复合材料界面的结构演化

2023/07/26 14:46

阅读:55

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应用领域:
汽车及零部件
发布时间:
2023/07/26
检测样品:
其他
检测项目:
Xenocs小角X射线散射仪检测高分子基纳米复合材料界面的结构演化
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55
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参考标准:
/

方案摘要:

在此文章中,利用小角X射线散射(SAXS)、小角中子散射(SANS)、电镜等方法研究了填充硅橡胶材料,获取了有无氘代链的复合材料中多层级网络结构信息。有无氘代链的复合材料SAXS曲线完全一致,并与不含氘代链样的SANS曲线重合。证实了二者的填料网络分布是一致的,并证实了含氘代链样SANS曲线小q部分强度增强的确来源于包裹界面结合胶层的填料聚集体的贡献。实现了我们利用SANS更直观地观察应变场下界面结合胶的结构演化信息的设计目标。为进一步结合原位SANS、原位SAXS 等技术,建立本构模型、关联硅橡胶材料多层级结构演化与宏观性能响应、Mullins效应结构机理等研究和认识打下了坚实基础。

产品配置单:

分析仪器

Xenocs小角X射线散射仪Xeuss 3.0 C

型号: Xeuss 3.0 C

产地: 法国

品牌: 赛诺普

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