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Xenocs赛诺普小角X射线散射仪测量对结晶度和层状尺寸与电性能进行相关性分析

2024/05/20 13:36

阅读:21

分享:
应用领域:
能源/新能源
发布时间:
2024/05/20
检测样品:
其他
检测项目:
浏览次数:
21
下载次数:
参考标准:
暂无

方案摘要:

利用SAXS和WAXS测量对结晶度和层状尺寸与电性能进行相关性分析。

产品配置单:

分析仪器

X-ray Scattering Analysis and Calculation Tool

型号: XSACT

产地: 法国

品牌: 赛诺普

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方案详情:

PVDF-TrFE是一种多功能压电聚合物,因其铁电和热电性能而受到广泛研究和关注。它在能量收集、传感器和电池技术、非挥发性存储器和组织工程等各个领域都有应用。PVDF-TrFE的电性能受其结构影响,因此可以通过改变形态、结晶度、结晶相比例或晶粒尺寸来调整。小角和广角X射线散射(SAXS和WAXS)是优秀的分析技术,可监测结晶度、纳米结构和层状尺寸的变化,然后将其与电性能的变化进行相关性分析。

在本应用手册中,我们展示了如何通过SAXS和WAXS测量轻松地表征层状结构和结晶度。该技术的高灵敏度使我们能够在长周期(对应于结晶和无定形相)和短周期(对应于结晶相的尺寸)中识别β相含量的微小变化以及层状相的改变(如图1所示)。这些结构的变化将进一步影响材料的电性能。


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材料

2023/10/08

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