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Xenocs小角X射线散射仪检测可见光如何影响有机半导体的形态
2023/05/04 11:09
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方案摘要：
产品配置单：
Xenocs小角X射线散射仪Xeuss 3.0 UHR
型号： Xeuss 3.0 UHR
产地： 法国
品牌： 赛诺普
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赛诺普 GISAXS样品架
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方案详情：
用GIWAXS研究光诱导有机半导体的形态变化
GIWAXS是一种非常有效的方法，通常用于确定沉积在基材上的薄膜中聚合物链的排列（主链取向）。图2（a）描述了在二维GIWAXS中可以观察到的edge-on和face-on图案共存的常见模式。在edge-on的方向中，链的主干与π-π堆积方向一起平行于基底，而侧链则垂直于基底。另外，在face-on的方向，π-π堆积方向垂直于基底，侧链和主链都在基底的平面上排列。这些不同的方向对电性能有影响（这一点会进一步讨论），并且在设计和优化基于P3HT的设备时要考虑到这一点[4]。例如，在本研究中记录的二维GIWAXS图谱如图2（b, c）所示，表明P3HT主要表现为edge-on的取向，并有一定程度的取向分布[3]。
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公司名称： 赛诺普（苏州）科学仪器有限公司
公司地址： 苏州市相城区高铁新城青龙港路58号天成时代商务广场28层2802室 联系人： 郭女士 邮编： 100166 联系电话： 400-879-7169
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