半导体一体化晶圆级/封装级可靠性测试系统

易捷测试（GBITEST）整合集成了全球先进的测试仪和探针台设备，推出晶圆级 DC 光电测试解决方案。此成熟的系统集成方案，不仅可以适用于传统的LED 芯片测试，提升其测试效率，还可以应用于新兴的光电探测器芯片的研发和量产。硬件系统优异的机械精度和重复性、超强的抗干扰和屏蔽能力、高分辨率光电性能测试能力，配合自动化测试软件的无缝连接和控制、强大的数据处理能力，直流光电测试系统能让客户快速地获取真实的器件参数，并实现自动化测试，节约时间成本，增加收益。

易捷测试推出了针对于功放芯片以及滤波器模组和收发系统模块的易测软件测试系统，专注于射频微波测试，适用于研发设计，WAT方案，为微电子器件提供在片测试和封装器件测试的系统整合方案，解决了现有全自动机台厂家不提供灵活多样的射频测试方案的问题，完成对可编程控制仪器的控制和数据收集，自定义测试参数，辅助控制在片prober，实现测试配置方案编辑和测试过程分离，集成清晰易用的测试操作流程，定制输出数据报表的格式，兼容不同客户的MES系统接口，实现交钥匙的完成系统解决方案。

由于4200-SCS的说明文档中没有关于CV相关测试方面非常详细的编程描述，且很多用户在使用中会有很多疑问，所以在这里，我将相关材料归纳并分享相关经验，方便大家编程时候使用。

在太空中，电子设备会受到辐射和重粒子的冲击而发生各种辐射效应，造成其工作的异常或故障，从国内外对航天事故的统计数据可以发现，40%的故障源于空间辐射。因此， 在使用器件时必须对其进行专门的抗辐照工艺处理，以确保其工作的可靠性。