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芯片ESD测试/TLP测试仪 HED-T5000(VF)

品牌: HANWA汉瓦
产地: 日本
型号: HED-T5000(VF)
报价: 面议
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产品介绍

HCA_E_HED-T5000_阪トレ_20211207.png

此设备配备了先进的测试模式

具备印加脉冲宽度为100ns/200ns的normal TLP测试与宽度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)测试模式

有助于验证HBM/CDM模式的测试

对于器件管脚的入射波和器件管脚发出的反射波,都可在示波器上确认到

此数据会自动保存,并在专用的显示软件上表示

专用显示软件可对入射波/反射波的合计值,snapback特性以及漏电流测试的电流值进行图形描绘

被保存的示波器上的数据可以进行高自由度的演算处理

比如,对于不同工艺的晶体管的ON电压及可以加在保护电路上的大电流值等,可以通过曲线的重叠描绘来确认其差异

并且可以与半自动探针台连接,实现TLP测试的自动化

由于可以在Wafer level上进行印加管脚间或芯片间的自动移位,所以能够很大地提升测试效率

售后服务
保修期: 1年
是否可延长保修期:
现场技术咨询:
免费培训: 面议
免费仪器保养: 面议
保内维修承诺: 面议
报修承诺: 面议
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HANWA汉瓦其他半导体检测仪HED-T5000(VF)的工作原理介绍

其他半导体检测仪HED-T5000(VF)的使用方法?

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工商信息

企业名称

深圳市易捷测试技术有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

440301105663278

成立日期

2011-08-26

注册资本

经营范围

一般经营项目是:电子产品测试技术开发;电子产品的技术开发、销售及其它国内贸易(法律、行政法规、国务院决定规定在登记前须批准的项目除外);电子仪器的租赁;信息咨询(不含人才中介、证券、保险、基金、金融业务及其它限制项目);经营进出口业务(法律、行政法规、国务院决定禁止的项目除外,限制的项目须取得许可后方可经营)。,许可经营项目是:

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