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规格：
可适应以下国际标准波形;ESDA_JEDEC JS-001（AEC），JEITA
该系统独特的短放电电路是通过其原始的机械设计实现的。短路使电感和电容对数据的影响最小。此外，使用单个电路可确保每个测试器件引脚的数据稳定性。
HANWA （日本）G5000 ESD 抗静电测试仪模拟静电产生模式（即人体模式（HBM）、机器模式（MM）和闩锁模式）来检测集成电路、分立器件及Wafer等产品的抗静电能力。
主要特征：
测试针数量可达1024针 ； HBM Voltage：0-8KV；M M Voltage：0-4 KV；具有Latch Up功能等。符合最新的测试标准。可以测试多大1024PIN的器件
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