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产地类别: 进口
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相位差测量装置RETS-100nx
RETS-100nx是一款适用于各种薄膜的相位差(延迟)测量装置,如OLED偏光片、多层相位差膜、IPS液晶相位差膜偏光片等。 可以高速·高精度测得超高(Re.60000nm)相位差。 “不剥离、非破坏”状态下,测量多层薄膜的每层相位差和轴角。 此外,软件操作简单、使用方便且测量精度高。
■ 高精度
测量多波长实现高精度
<高精度的原因> ?使用大塚电子自社的高性能瞬间多通道光谱仪。 ?获得数据量很多的透过率信息,实现高精度测量。 (获得约个500波长的透过率信息、是其他公司同类产品的约50倍)
■ 宽测量范围(相位差:0 ~ 60000nm)
■ 可测量相位差的波长分散形状
■ 高相位差
■ 测量测量 -不剥离、非破坏测量多层薄膜的每层相位差及轴角-
■ 光学系
固定平台
旋转平台
式 样
项目
测量项目(薄膜、光学材料)
相位差(波长分散)、慢轴、Rth*1、3次元折射率*1等
测量项目(偏光片)
吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等
测量项目(液晶Cell)
Cell Gap、预倾角*1、扭曲角、配向角等
相位差测量范围
0 ~ 60,000nm
相位差重复性
3σ≦0.08nm (水晶波长板 约600nm)
Cell Gap测量范围
0 ~ 600μm (Δn=0.1的情况)
Cell Gap重复性
3σ≦0.005μm (Cell Gap约3μm、Δn=0.1的情况)
轴检出重复性
3σ≦0.08° (水晶波长板 约600nm)
测量波长范围
400 ~ 800nm (可选择其他波长)
检出器
瞬间多通道光谱仪
测量光斑
φ2mm (标准式样)
光源
100W 卤素灯
数据处理部
PC、显示器
平台尺寸:标准
100mm × 100mm (固定平台)
选配
· 超高相位差测量 · 多层测量 · 轴角度补正功能 · 自动XY平台 · 自动倾斜旋转平台
*1 需要自动倾斜旋转平台(选配件)
企业名称
大塚电子(苏州)有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
320594400019697
成立日期
2007-04-26
注册资本
10
经营范围
从事分光仪、分光光度计、摄谱仪、理化分析仪器、装置和其他测量或检验仪器、器具、机器商品(包含相应零部件、消耗品)的批发、进出口、佣金代理及相关配套业务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
大塚电子(苏州)有限公司
公司地址
苏州工业园区苏州大道西1号世纪金融大厦609室
客服电话
日本大塚显微分光光度计 LCF SERIES
大塚纳米粒度仪nanoSAQLA
日本大塚相位差测量装置RETS-100nx
大塚纳米粒度及zeta电位仪ELSZ-neo
线扫描膜厚仪
晶圆在线测厚系统 GS-300
大塚电子小角激光散射仪PP-1000
日本大塚电子zeta电位测量仪ELSZ
大塚电子光纤光谱仪MCPD9800
大塚电子膜厚仪FE-300
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大塚电子量子效率测量系统QE-2000
大塚电子显微分光膜厚仪OPTM
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公司名称: 大塚电子(苏州)有限公司
公司地址: 苏州工业园区苏州大道西1号世纪金融大厦609室 联系人: 王先生 邮编: 215021
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