FE-300膜厚仪
产品特点
●测试范围涵盖薄膜到厚膜
●基于绝对反射率光谱分析膜厚
●结构紧凑,精度高,台式经济型
●操作简单
●非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析
适用范围
●多层膜
●非干涉膜
●超晶格结构
●光学薄膜(ARfilm、ITO)
●FPD(ITO、PI、PC、CF)
企业名称
大塚电子(苏州)有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
320594400019697
成立日期
2007-04-26
注册资本
10
经营范围
从事分光仪、分光光度计、摄谱仪、理化分析仪器、装置和其他测量或检验仪器、器具、机器商品(包含相应零部件、消耗品)的批发、进出口、佣金代理及相关配套业务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
大塚电子(苏州)有限公司
公司地址
苏州工业园区苏州大道西1号世纪金融大厦609室
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