2021/08/18 15:10
阅读:93
分享:方案摘要:
产品配置单:
Lexsygsmart 用热释光法检测辐照后食品
型号: Lexsygsmart vs. Risø TL/OS
产地: 德国
品牌: Freiberg Instruments
¥50万 - 80万
参考报价
联系电话
方案详情:
红外激发发光(IRSL)测年
许多类型的沉积物不含石英,为了测定这些沉积物的光照年龄,使用了红外激发发光(IRSL)。
u 由于较高的饱和剂量,其年龄范围比光释光法大
u 钾长石内部剂量率降低了对外部剂量率和水分含量的依赖
u 可能会遭受异常信号丢失,导致年龄低估
u 后红外红外发光技术(p-IRIR)可以确定中更新世沉积物的年代
应用于多矿物黄土的SAR协议单片IRSL信号
参考文献:
Preusser, F., Muru, M., and Rosentau, A. (2014). 《爱沙尼亚Ruhnu岛全新世海岸前沙丘年代的不同Post-IR IRSL方法比较》 Geochronometria 41, 342-351.
Zöller, L., Richter, D., Masuth, S., Wunner, L., Fischer, M., and Antl-Weiser, W. (2013). 《奥地利Grub - Kranaweberg遗址的发光年代学研究》 Eiszeitalter & Gegenwart / Quaternary Science Journal 62, 127–135.
德国Freiberg释光测年仪TL/OSL配置选项
› Beta, Alpha or X-ray 辐照源可选
› 自动探测器更换器(4位)
› 滤光片更换器的自动检测 (也包括过滤片的自动检测)
› 使用基于EMCCD的高灵敏度光谱检测单元进行空间分辨的单粒分析 (UV/IR spectroscopy)
› LED-晒退装置(太阳模拟器)
› 样本摄像
› 超高速脉冲(< 10ns); 时间分辨的释光
› 用于辐射缺陷表征的热电制冷
› 用于石英和长石元素分析的XRF附加组件
光释光测年基本流程:
野外:
1、 采取样品,测量伽马剂量率(可选)
2、 提取一定粒级的石英或钾长石颗粒
3、 测量样品的含水量和放射性(化学或放射性测量)计算剂量率
4、 测量样品的光释光,计算等效剂量,统计分析
5、 计算年龄
(光释光测年基本流程来自北京大学光释光测年实验室,使用释光测年仪器型号为:Lexsygsmart)
下载本篇解决方案:
更多
应用分享 | PHI TOF-SIMS助力锂电的绿色可持续发展战略
随着国内新能源汽车销量高速增长,动力电池装机量也随之迅速攀升。鉴于新能源汽车动力电池的平均使用寿命约为6~8年,动力电池在未来2-3年内将迎来大规模退役潮,因此动力电池的回收已成为全国甚至全球相关产业可持续发展的关键。锂的回收需要考虑诸多问题,如回收效率、回收成本、环境污染以及方法的可行性等。传统的废锂回收方法主要有火法冶金、湿法冶金、生物冶金和电化学萃取等。然而,根据全球环境规划署(United Nations Environment Programme)的报告,欧盟的废LIB回收率不5%,这意味着废锂的回收仍然面临着极大的挑战。
半导体
2024/07/02
应用分享 | 薄膜深度分析之角分辨XPS
角度分辨X射线光电子能谱(Angle resolved XPS,ARXPS)是通过改变光电子起飞角,能量分析器检测到样品表面不同深度区域激发出来的光电子,进而得到样品化学信息的深度分布。ARXPS常用于对具有不同膜层结构的超薄膜样品进行分析,通常测试的膜层厚度要小于7.5 nm。
半导体
2024/07/02
布鲁克全新台式D6 PHASER应用报告系列(四)— 分子筛表征
X射线衍射(XRD)是表征有序材料结构的重要工具。高角度的相干散射可以反映原子的排列。在非常低的角度也可以观察到相干信号,这些信号可以用来表征分子筛材料(比如ZSM-41或SBA-15)中圆柱形孔的周期性排列。
材料
2024/07/02
应用分享 | PHI X射线光电子能谱仪在光学中的作用
带隙(Band Gap),亦被称为禁带宽度,是半导体材料的重要参数之一。它不仅揭示了价电子被束缚的紧密程度,还是衡量半导体光学性能优越与否的重要指标。
半导体
2024/06/13